在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí)，在后續(xù)加工成本發(fā)生之前，可以識(shí)別出低質(zhì)量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長(zhǎng)提供了一種提高硅錠質(zhì)量的工具，使其能夠生產(chǎn)出較薄的硅片，降低了機(jī)械產(chǎn)量損失。

Hinds Instruments 的Exicor® 應(yīng)力雙折射檢測(cè)系統(tǒng)PV-Si是Exicor雙折射測(cè)量系統(tǒng)系列產(chǎn)品的工作平臺(tái)的擴(kuò)展。本系統(tǒng)采用高質(zhì)量的對(duì)稱光彈性調(diào)制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光電二極管探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)了光伏和半導(dǎo)體工業(yè)中硅材料的高精度雙折射測(cè)量，除硅外，還可測(cè)量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅(jiān)固、通用，可容納和測(cè)量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。臺(tái)面設(shè)計(jì)和直觀的自動(dòng)掃描軟件使該產(chǎn)品成為原材料改進(jìn)、研發(fā)和日常評(píng)估的選擇，也是對(duì)原始硅錠和其他高技術(shù)材料進(jìn)行評(píng)估的選擇。