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目錄:北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司>>應(yīng)力儀>>應(yīng)力雙折射Exior-System>> Exicor-System美國Hinds Instruments

美國Hinds Instruments
  • 美國Hinds Instruments
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 Hinds Instruments
  • 型號 Exicor-System
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-03-12 10:04:01瀏覽次數(shù):2359評價

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美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出,型號為150AT,為客戶提供技術(shù),具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品,該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。
  概述:
  美國Hinds Instruments的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出,型號為150AT,為客戶提供技術(shù),具生產(chǎn)價值的測量雙折射的能力。
  Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是美國Hinds Instruments的PEMLabs™技術(shù)的產(chǎn)品,該技術(shù)推出了超低雙折射光彈性調(diào)制器(PEM)。PEM的調(diào)制純度增強了Exicor的靈敏度,這是調(diào)制器的諧振特性的結(jié)果。 PEM的調(diào)制頻率為50 kHz,提供快速測量功能。
  雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計與PEM科學(xué)相結(jié)合,提供了一個重要特性:光學(xué)系統(tǒng)中沒有移動部件。 移動部件的缺失產(chǎn)生高機械可靠性以及測量的可重復(fù)性,并允許同時測量幅度和角度。
  Exicor測量通過正在研究的光學(xué)樣品沿著光路積分的延遲。 它旨在測量并顯示延遲軸的大小和方向。
  此設(shè)計減了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件,并避免了在測量角度之間切換的重復(fù)性。 氦氖激光束被偏振,然后被PEM調(diào)制。 調(diào)制后的光束通過樣品傳輸并分配一個分光鏡。 每束光束通過分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。 電子信號通過一個鎖定放大器處理,提供非常低的信號檢測。
  由Hinds儀器公司開發(fā)的軟件算法將來自電子模塊的信號電平轉(zhuǎn)換為可以確定線性雙折射的參數(shù)。
  計算機從兩個輸入中選擇,允許從兩個信號通道進行連續(xù)測量。 分析數(shù)據(jù),然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。 當(dāng)在自動映射模式下操作時,x-y平移階段將把樣本移動到下一個預(yù)定的測量位置。 結(jié)果以用戶確認(rèn)的格式即時顯示。
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