上海儀電 原上海精科/上分 760CRT紫外可見分光光度計 返回列表頁

上海儀電 760CRT紫外可見分光光度計

主要特點：

●采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結構，高分辨率，低雜散光，測光精度高，穩(wěn)定性能好。

● 微機控制，自動記錄，打印機可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
● 光源自動轉換（可在294nm～364nm間任意設定）
● 功能較強的光譜處理能力。

軟件特點：
● 信息存貯容量大，保存方便。
● 軟件提供四個圖譜通道臨時貯存圖譜，可進行覆蓋和重疊方式的透過率、吸光度、吸收度對數(shù)和能量圖譜掃描，透過率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉換，對圖譜可進行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運算、導數(shù)運算。
● 圖譜的峰谷檢測、縮放輕松自如。
● 時間掃描可進行動力學研究。
● 定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進行曲線擬合及異常點剔除、2λ和3λ的測定，3λ提供了自動的波長設定并提供10組波長數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
● 軟件提供了定波長和多波長測試，并可對測試數(shù)據(jù)進行注釋，對同一樣品多用戶的測試提供了方便，多波長測試則可進行多達20個點波長的測試。
● 可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設置為儀器當前測試條件。
● 打印機可進行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。

技術指標：
● 測光方式：雙光束C-T式光路結構，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測。
● 波長范圍：190nm～900nm
● 分辯率：優(yōu)于0.15nm
● 光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調
● 波長zui大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動波長校正裝置）
● 波長重復性：0.2nm
● 雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
● 透射比zui大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 掃描速度：快、中、慢
● 穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min
● 噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）

上海儀電 原上海精科/上分 760CRT紫外可見分光光度計

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