薄膜厚度測量儀 返回列表頁

薄膜厚度測量儀低成本的薄膜測量系統(tǒng)

以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計，能夠在厚膜中測量單層與多層(例如：底漆或硬涂層等)。

薄膜厚度測量儀簡易操作界面

現(xiàn)在，具有樣板模式功能的F10-HC將容易使用，這個功能允許用戶匯入樣品的影像，并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結(jié)果是否有效，并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。

不需要手動基準(zhǔn)校正

F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量。

背面反射干擾

背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn)，F(xiàn)10-HC系統(tǒng)的接觸式探頭能將背面反射干擾的影響降低，使用者能以較高的精準(zhǔn)度來測量涂層厚度。

附加特性

•          嵌入式在線診斷方式

•          免費離線分析軟件

•          精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果