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電阻率測量儀
電阻率測量儀R50提供接觸式四點(diǎn)探針(4PP)和非接觸式渦流(EC)測量。電動X-Y載物臺可額外使用定制樣品架,樣品測量可達(dá)300mm的,可測量面積可達(dá)200m...
型號: R50
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:50:55
對比
薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚儀供應(yīng)電阻率測量儀電阻率測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀-膜厚儀
薄膜厚度測量儀-膜厚儀:Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測...
型號: Filmetric...
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:48:58
對比
供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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Herz主動式減震系統(tǒng)
Herz主動式減震系統(tǒng)平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除,干擾測量的破壞性低頻振動噪聲,幫...
型號: UT-1000A
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:46:47
對比
主動式減震臺主動式減震設(shè)備供應(yīng)主動式減震系統(tǒng)主動式減震系統(tǒng)報(bào)價(jià)主動式防震系統(tǒng)
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薄膜厚度測量儀
F54薄膜厚度測量儀的產(chǎn)品能以一個(gè)電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點(diǎn)以每秒測繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米,可選擇數(shù)十種內(nèi)...
型號: F54
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:45:05
對比
供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀
薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo),F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。
型號: F10-RT
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:42:52
對比
供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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AVI-600系列 主動式防震系統(tǒng)
AVI-600系列 主動式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動隔振系統(tǒng),是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來說是不錯的選擇。
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:40:47
對比
主動式防震臺主動式防震設(shè)備被動式防震系統(tǒng)主動式防震系統(tǒng)報(bào)價(jià)供應(yīng)主動式防震系統(tǒng)
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多波長橢偏儀
多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...
型號: Film Sens...
所在地:北京市
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面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:39:05
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測量儀器測量設(shè)備多波長橢偏儀報(bào)價(jià)多功能橢偏儀供應(yīng)多功能橢偏儀
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智能型多功能橢偏儀
智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進(jìn)行簡單,快速,準(zhǔn)確表征和分析的工具。 多功能性設(shè)計(jì),配置靈活,具備多角度測量能力,可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。
型號: Smart SE
所在地:北京市
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面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:37:25
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測量儀器測量設(shè)備自動多功能橢偏儀多功能橢偏儀價(jià)格供應(yīng)多功能橢偏儀
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Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀:實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明、硅、化合物半導(dǎo)體和金屬基底...
型號:
所在地:北京市
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面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:35:16
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錨桿質(zhì)量檢測系統(tǒng)薄膜缺陷檢測儀器薄膜缺陷檢測設(shè)備薄膜缺陷檢測儀價(jià)格供應(yīng)薄膜缺陷檢測儀
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F3-sX薄膜厚度測量儀
F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理,可以測試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,可測厚度達(dá)3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻,F(xiàn)3-sX系列配置10...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:33:23
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供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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薄膜厚度測量儀
F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭,可以精確監(jiān)控膜厚測量點(diǎn)。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品,并且可以改良在較粗糙的材料上的測...
型號: F54-XYT-3...
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:31:39
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供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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F54-XY-200薄膜厚度測量儀
F54-XY-200薄膜厚度測量儀:借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng),可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:29:21
對比
供應(yīng)薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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HS華山系列被動式減震臺
HS華山系列被動式減震臺采用:半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面(同OTP臺面)的氣浮隔振光學(xué)平臺,整體高度800mm,分為氣浮式支架和臺面兩部分。
型號:
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參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:26:55
對比
自動式減震臺被動式減震設(shè)備被動式減震系統(tǒng)被動式減震臺報(bào)價(jià)精密防震工作臺
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GS岡山系列被動式減震臺
GS岡山系列被動式減震臺是整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面 (同OTP 臺面)的標(biāo)準(zhǔn)雙頻阻尼被動式隔振平 臺,整體高度800mm,分為氣浮式支架和臺面 兩部分。
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:25:08
對比
自動式減震臺被動式減震設(shè)備被動式減震系統(tǒng)被動式減震臺報(bào)價(jià)精密防震工作臺
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AVI-200系列 精密防震工作臺
AVI-200系列 精密防震工作臺適合對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備.AVI-200 WOKSTATION這款設(shè)備允許在一定的大小范圍內(nèi)增設(shè)額外的模...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:22:59
對比
自動式減震臺精密防震設(shè)備精密防震系統(tǒng)精密防震工作臺報(bào)價(jià)供應(yīng)精密防震工作臺
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AVI400系列 主動式減震系統(tǒng)
AVI400系列 主動式減震系統(tǒng):Table Stable在減震行業(yè)內(nèi)有著相當(dāng)豐富的經(jīng)驗(yàn)。于此同時(shí)Table Stable測量技術(shù)也取得了很大的進(jìn)步,一些靈敏度...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:21:14
對比
自動式減震臺自動式減震設(shè)備主動式減震臺主動式減震系統(tǒng)報(bào)價(jià)供應(yīng)主動式減震系統(tǒng)
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MINI450F主動式減震臺
MINI450F主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果,同時(shí)沒有共振,LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示。
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:18:54
對比
自動式減震臺自動式減震設(shè)備主動式減震系統(tǒng)主動式減震報(bào)價(jià)供應(yīng)主動式減震
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KLA iNano 納米壓痕儀
KLA iNano 納米壓痕儀:iNano為壓痕、硬度、劃痕測試和多元化納米級測試等納米級力學(xué)測試設(shè)計(jì)。iNano能夠測試包括軟質(zhì)高聚物到硬質(zhì)涂層和薄膜等在內(nèi)的...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:17:11
對比
供應(yīng)納米壓痕儀納米壓痕測量儀納米壓痕測量系統(tǒng)納米壓痕儀報(bào)價(jià)電阻率測量裝置
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Profilm3D光學(xué)輪廓儀
Profilm3D光學(xué)輪廓儀使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù)。以低價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:15:31
對比
測量系統(tǒng)供應(yīng)輪廓儀測量儀3D光學(xué)輪廓裝置3D光學(xué)輪廓設(shè)備
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KLA探針式臺階儀P-7
KLA探針式臺階儀P-7:P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測量,其掃描可...
型號:
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/20 11:13:24
對比
測量儀器測量儀供應(yīng)探針式臺階儀探針式臺階儀報(bào)價(jià)P-7探針式臺階儀測速探針