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北京中科博達(dá)儀器科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 北京紫外光老化試驗(yàn)箱,小型紫外光老化試驗(yàn)箱 |
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產(chǎn)品展示
Product| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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BD/CS-L1IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)設(shè)備參數(shù) 簡(jiǎn)單介紹：IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)設(shè)備參數(shù) 產(chǎn)品用途：該產(chǎn)品主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：BD/CS-L1 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-12 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L2GB4208外殼防護(hù)試驗(yàn)箱，北京IPX5/IPX6淋雨試驗(yàn)箱 簡(jiǎn)單介紹：GB4208外殼防護(hù)試驗(yàn)箱，北京IPX5/IPX6淋雨試驗(yàn)箱 保修十八個(gè)月,免費(fèi)送貨上門。 本設(shè)備是按GB/T10485-2007、GB/T4208-2008、GB/T12480-90、GB/T2423.38-2005、GB/T4942.1-2006、GB/T4942.2-1993、GB7001等有關(guān)技術(shù)參數(shù)設(shè)計(jì)制作。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-11 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L1/CS-L2天津IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)箱 簡(jiǎn)單介紹：天津IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：該產(chǎn)品主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L1/CS-L2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-11 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L1/CS-L2IPX5-6強(qiáng)沖水試驗(yàn)裝置價(jià)格+北京 簡(jiǎn)單介紹：IPX5-6強(qiáng)沖水試驗(yàn)裝置價(jià)格+北京 產(chǎn)品用途：該產(chǎn)品主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L1/CS-L2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-11 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L1GB4208-2008外殼防護(hù)等級(jí)IPX5沖水試驗(yàn)設(shè)備 簡(jiǎn)單介紹：GB4208-2008外殼防護(hù)等級(jí)IPX5沖水試驗(yàn)設(shè)備該產(chǎn)品主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L1 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-11 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L1/CS-L2北京IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)裝置廠家價(jià)格 簡(jiǎn)單介紹：北京IPX5/IPX6沖水試驗(yàn)裝置廠家價(jià)格產(chǎn)品用途：該產(chǎn)品主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L1/CS-L2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-11 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
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CS-L1/CS-L2沖水試驗(yàn)設(shè)備 簡(jiǎn)單介紹：沖水試驗(yàn)設(shè)備主要用于考核電子、電工產(chǎn)品外殼、密封件在水試驗(yàn)后,或者在試驗(yàn)期間是否能保證該設(shè)備及元器件良好的工作性能狀態(tài),同時(shí)檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸過(guò)程或使用中可能受到侵水的影響,為產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)提供可靠依據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：CS-L1/CS-L2 所在地：北京市 更新時(shí)間：2024-12-10 |
參考價(jià): 面議 詢價(jià)留言 | ||
