上海維特銳實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司

中級(jí)會(huì)員·11年

聯(lián)系電話(huà)

13795314342

您現(xiàn)在的位置: 首頁(yè)> 技術(shù)文章 > LEITZ探針測(cè)試介紹

德國(guó)KRACHT克拉克

德國(guó)VSE威仕

德國(guó)KOBOLD科寶

意大利ATOS阿托斯

德國(guó)HYDAC賀德克

德國(guó)REXROTH力士樂(lè)

德國(guó)好貨

德國(guó)IFM易福門(mén)

美國(guó)MAC

美國(guó)ASCO阿斯卡

德國(guó)E+H

德國(guó)JUMO久茂

德國(guó)Pilz皮爾茲

德國(guó)turck圖爾克

德國(guó)P+F倍加福

德國(guó)瑞克梅爾RICKMEIER

德國(guó)GSR

德國(guó)herion海隆

其他德國(guó)品牌

德國(guó)EMG

德國(guó)HEIDENHAIN海德漢

英國(guó)NORGREN諾冠

美國(guó)MOOG穆格

美國(guó)numatics紐曼蒂克

其他歐美品牌

日本豐興TOYOOKI/日本神視SUNX

美國(guó)Raytek雷泰

美國(guó)TSI分析儀

日本小金井koganei

中國(guó)臺(tái)灣品牌

德國(guó)MEISTER麥斯特

BALLUFF德國(guó)巴魯夫

HAWE德國(guó)哈威

英國(guó)WEBTEC威泰科

德國(guó)WOERNER威納

美國(guó)VICKERS威格士

美國(guó)PARKER派克

德國(guó)FESTO費(fèi)斯托

日本SMC

意大利GEFRAN杰夫倫

其他日本品牌

德國(guó)ABB

日本ASAHI

德國(guó)BURKERT寶德

日本YUKEN油研

美國(guó)ACE緩沖器

意大利DUPLOMATIC迪普馬

美國(guó)DENISON

意大利CABUR卡博

日本CKD喜開(kāi)理

德國(guó)WURTH伍爾特

美國(guó)RLS

德國(guó)EPRO愛(ài)普

德國(guó)摩莎MOXA

日本OPTEX奧普士

美國(guó)Bently/本特利

GOETZE

JIHOSTROJ

中級(jí)會(huì)員·11年
聯(lián)人:
徐智勇
話(huà):
021-32586636
機(jī):
13795314342
真:
86-021-52500777
址:
上海市普陀區(qū)中江路889號(hào)1501室
個(gè)化:
www.emg01-china.com
機(jī)站:
m.emg01-china.com
網(wǎng)址:
www.emg01-china.com

掃一掃訪問(wèn)手機(jī)商鋪

LEITZ探針測(cè)試介紹

2017-2-7  閱讀(2325)

分享:

LEITZ探針測(cè)試方面
測(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探針。
表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。
國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有: QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT,INGUN,BT
探針的材質(zhì):W,ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質(zhì)為W,ReW, 彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長(zhǎng),壽命一般。
2. A+材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測(cè)試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長(zhǎng)。
LEITZ探針分類(lèi)
探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;
B、在線(xiàn)測(cè)試探針:PCB線(xiàn)路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;
C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針主要類(lèi)型:懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針:劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹(shù)脂型(Epoxy Type)
垂直探針:垂直型(Vertical Type)
1.ICT探針 (ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線(xiàn)電路測(cè)試和功能測(cè)試.也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目應(yīng)用較多的一種探針.
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶(hù)定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.
3.微型探針(MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.
4.開(kāi)關(guān)探針(Switch Probes)
開(kāi)關(guān)探針單*支探針有兩路電流.
5.高頻探針(Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以?xún)?nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.
6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)
彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng),一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.
7.高電流探針(High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.zui大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).
10.汽車(chē)線(xiàn)束測(cè)試測(cè)試探針
專(zhuān)業(yè)用于汽車(chē)線(xiàn)束通斷檢測(cè),直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A
除以上類(lèi)型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.

 此產(chǎn)品信息版權(quán)歸上海維特銳所有,如想詳細(xì)了解請(qǐng)點(diǎn)擊:LEITZ探針 

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
產(chǎn)品對(duì)比 二維碼 在線(xiàn)交流

掃一掃訪問(wèn)手機(jī)商鋪

對(duì)比框

在線(xiàn)留言