一、步入式高低溫試驗室用途 ：

步入式高低溫試驗室應用于國防工業(yè)、航天工業(yè)、自動化零組件汽車 部件、電子電器件、塑膠、化工、制藥工業(yè)及相關產品之耐熱、耐寒測試，為產業(yè)界提供大型零件，半成品，成品之大型溫濕度測試環(huán)境空間，適合于測試產品量多、體積大之試驗設備。

二、結構：

室體底座采用8＃槽鋼焊接成網式框架，以便于在水平條件下能承受室體及人員試件的重量，而不產生室體底面凹凸不平及開裂等。承受力200kg/每平方米室體（試驗室主體（殼體））分為六個室體面及一扇雙開或單開式室體大門，室體材料為內膽優(yōu)質不銹鋼板（防止長時間在濕度運行狀態(tài)下內壁生銹），外膽為優(yōu)質彩鋼板，保溫介質為聚氨脂硬質發(fā)泡隔熱，質輕耐抗擊，隔熱性能佳，大門材料同樣為彩鋼板制成，大門拉手為內外開啟式，以便于試驗人員從封閉的室內自由開啟大門。

采用*的平衡調溫調濕方式，可獲得安全、精確的溫濕度環(huán)境。具有穩(wěn)定、平衡的加熱加濕性能，可進行高精度、高溫度的溫濕度控制。裝備高精度智能化的溫度調節(jié)器，溫濕度采用彩色液晶觸摸顯示屏，可進行各種復雜的程序設定，程序設定采用對話方式，操作簡單、迅速制冷回路自動選擇，自控裝置具有隨溫度的設定值自動選擇運轉制冷回路的性能，實現(xiàn)高溫度狀態(tài)下的直接啟動制冷，直接降溫。 大門裝有大觀測窗，可方便觀察供試樣品的試驗狀態(tài)。裝有多重保護裝置，有效的保障設備的安全。

三、型號:ZT-CTH-13000L　

五、性能:

1. 溫度范圍:0℃/-20℃/-40℃/-50℃/-65℃～ 50℃/ 85℃

2. 溫度波動度:±0.5℃. 　　

3. 溫度均勻度:±2.0℃. 　　

4. 升溫時間:由 20℃升至85℃小于60分鐘（非線性空載）. 　　

5. 降溫時間:由 20℃降至－40℃小于70分鐘（非線性空載）. 　

   ※ 溫度變化速率為空氣溫度變化速率,而非產品溫度變化速率. 　　

6.電源 ：三相五線制AC3￠5W380V50HZ 保護接地 .

六、結構:

a. 可拆裝現(xiàn)場拼裝結構方式. 　　

b. 工作室內尺寸: 根據需求定制 .　

七、材質:

a.外箱材質: 彩鋼板｜聚氨酯板. 　　

b.內箱材質: 不銹鋼板（SUS#304）. 　　

c.保溫材質: 高密度PU硬質發(fā)泡。 　　

d. 庫板承重:500Kg/m（均勻分布負重）. 　　

e. 庫體底座、電控箱及冷凍箱: 國標角鐵 6#槽鋼 鋼板噴塑. 　　

f. 實驗室箱門: 單開門（W80 x H180cm）. 　　

g. 材質: 同庫房板. 　　

h. 把手:圓柱型把手. 　　

i. 后鈕:SUS#304. 　　

m. 窗口450×340×40cm三層真空層. 　　

n. 送風循環(huán)系統(tǒng): a. 馬達:AC380V 1.5HP 1臺或5臺. 　　

o. 加長軸心. 　　

p. 風扇: 多翼式扇葉（SIROCCO FAN）. 　　

q. 天花板送風強制循環(huán)系統(tǒng).

八、控制器：

采用彩色型5.7寸或10.4寸進口微電腦液晶顯示觸控式屏幕直接按鍵型，中英文表示及320×240點的圖形之廣視角，高對比附可調背光功能之溫濕度同時可程控器，具100組程序1000段次記憶，每段99Hour59Min，每段可循環(huán)999次，可任意分割設定，并附多組PID控制功能。

九、制冷系統(tǒng)：

1、制冷系統(tǒng)及壓縮機：為了保證試驗室降溫速率和低溫度的要求本試驗采用一

   套法國“泰康”或德國“比澤爾”全封閉或半封閉二元復疊式氟利昂制冷系統(tǒng)

   壓縮機所組成的二元復疊式氟利昂制冷系統(tǒng)。

2、制冷劑：采用美國DUPONT公司產R404A（低壓循環(huán)）、R23（高壓循環(huán)）環(huán)保制

   冷劑。

3、制冷輔助件：膨脹閥（丹麥“DANFOSS”）電磁閥（日本）,過濾器（丹

   麥“DANFOSS”）,壓力控制器（丹麥“DANFOSS”）,油壓保護（丹

   麥“DANFOSS”）,截止閥（意大利CAS）,油分離器（歐美ALCO）等制冷配

   件均采用進口件.

十、安全保護措施：

1、安全可靠的接地保護裝置。

2、電源欠壓、缺相保護。

3、獨立的工作室超溫保護。

4、制冷機超壓、過載、油壓欠壓保護。

5、加熱器短路、過載保護

6、漏電保護、報警聲訊提示。

7、缺水保護裝置.

十一、執(zhí)行與滿足標準：
1.GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件
3.GB/T10592-1989高低溫試驗箱技術條件
5.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
8.GB/T2423.1～2《電工電子產品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A：低溫試驗方法、

  試驗B：高溫試驗方法》.