XEMIS是一款高精度的吸附微量天平,用于環(huán)境下的精密測(cè)量。它可作為微量天平單獨(dú)使用,也可作為完整的吸附分析儀器。XEMIS有著出色的靈活性以及的稱量精度和穩(wěn)定性。 XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema*的外部感知技術(shù),可在高溫、高壓條件下進(jìn)行重量吸附分析,也可與其他商業(yè)化的吸附微量天平儀器聯(lián)用。
產(chǎn)品特點(diǎn)
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外部感知技術(shù),把敏感元件置于天平室外部,允許腐蝕性和易燃?xì)怏w的操作
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幾何對(duì)稱、精密設(shè)計(jì)的微量天平
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內(nèi)部容積小化
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大容量微量天平(5克),分辨率0.2μg和長(zhǎng)期穩(wěn)定性±5μg
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寬動(dòng)態(tài)稱量范圍(0-200毫克)
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操作壓力高達(dá)200bar
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單獨(dú)的反應(yīng)器可進(jìn)行從77 K到773 K的全溫度范圍測(cè)量
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無(wú)需重新歸零或原位校準(zhǔn)
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采用IGA*的終點(diǎn)預(yù)測(cè)方法
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全金屬結(jié)構(gòu)由高品質(zhì)的VCR裝配
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模塊化設(shè)計(jì),與所有配件兼容且可升級(jí)