法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀也被稱為SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀,具有超高的相位采樣分辨率(160 x 128)和高感光靈敏度,可以準確的測量0.9-1.7 μm的波前數(shù)據(jù)并且可適用于低功率紅外光源測試。
法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀
SID4 SWIR HR波前分析儀,0.9-1.7 μm超高采樣分辨率
法國Phasics提供的SID4 SWIR HR紅外高分辨率波前分析儀集成了InGaAs探測器和Phasics特殊的知識產(chǎn)權(quán)技術(shù)——四波橫向剪切設(shè)計而成的。由于SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的超高采樣分辨率(160 x 128 phase pixels)和高靈敏度,可以精確的測量900 nm到1.7 μm的波前數(shù)據(jù)。短波紅外波前傳感器SID4 SWIR HR是一種創(chuàng)新的設(shè)計方案,它的鏡頭可以應(yīng)用于光通信,儀器檢測,軍事或夜視監(jiān)測等領(lǐng)域。
SID4 SWIR HR超高采樣分辨率波前傳感器的主要特點:
- 覆蓋0.9-1.7 μm短波紅外波段
- 160 x 128的高相位采樣分辨率
- 高感光靈敏度,可適用于低功率紅外光源測試
SID4 SWIR HR近紅外波前分析儀的主要應(yīng)用:
- 激光,自適應(yīng)光學
- 光學元件及光學系統(tǒng)計量
- 等離子體檢測
法國Phasics的紅外高分辨率波前分析儀