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霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀可以在一個測量流程內(nèi)組合測量粗糙度和輪廓，柔性大，能夠滿足表面測量技術(shù)的所有需求，既省時，又省費用。
| 技術(shù)特點 | 主要特點 |
| ?電子測頭臂識別技術(shù) | ?超精密的光機探測系統(tǒng) |
| ?探測頭的電子保護裝置 | ?通用性好 |
| ?電子調(diào)節(jié)探測力 | ?極富人性化的設計 |
| ?高精度的測頭臂定位 | ?測頭臂的選擇范圍廣 |
| ?可上下測量 | ?創(chuàng)新的技術(shù) ?校準方法簡單 ?新的評價可能：可上下測量，測量工件表面形貌時的測量行程大 |
校準方法 |
帶電子識別功能的測頭臂支架 由于使用了磁性測頭臂支架，所以測頭臂的更換迅速可靠 |
可上下測量 測頭臂安裝了雙探測頭，所以一次運行可上下探測 |
霍梅爾-艾達米克NanoScan
| 選項 | 供貨范圍 |
?用于特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂 ?經(jīng)過認證的qs-STAT接口（AQDEF）。 ?輪廓標準塊KN8 ?可保護測量系統(tǒng)免受環(huán)境影響的護罩
| ?帶22"TFT顯示屏的評價電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價軟件 ?具有自動保存功能的PDF打印機 ?wavecontrol™basic操作面板 ?包含3個帶金剛石探測頭或紅寶石測頭的測頭臂 ?粗糙度標準塊RNDH2 ?用于緊固工件的測量臺MT1 XYO ?校準用球形標準件
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| 型號 | NanoScan855 |
| 測量范圍 | R+C：24/48mm |
| zui小分辨率 | R+C：0.6/1.2nm |
| 水平測量范圍/水平分辨率 | 200mm/0.01μm |
| 測量立柱行程 | 550mm |
| 硬巖石板 | 850x600mm |
