Kdesign薄膜測厚儀 返回列表頁

Kdesign薄膜測厚儀KDvision-LAB

隨時準(zhǔn)備使用，包括觸摸屏電腦用于操作、數(shù)據(jù)庫和網(wǎng)絡(luò)集成。
易于操作和操作，在實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)中使用。
所有非導(dǎo)電塑料材料的非接觸電容測量。
采用集成高精度千分尺自動校準(zhǔn)。
自動啟動/停止檢測塑料薄膜樣本，各種薄膜切片。
易于配置的自動過濾器(褶皺檢測)。
數(shù)據(jù)導(dǎo)出工具。
電容式測量，測量點(diǎn)數(shù)可調(diào)。
顯示原始數(shù)據(jù)和過濾數(shù)據(jù)(%,μm 2σ-3σ)。
采用集成測微計按ISO 4593進(jìn)行機(jī)械測量。
不需要導(dǎo)向滾輪組件。

產(chǎn)品特征Special Features:

Ready to use, incl. Touch-Panel-PC for operating, data base and network integration；

Easy handling and operation；

Non-contact capacitive measurement for all non-conductive plastic materials；

Auto calibration by integrated high-precision micrometer；

Auto start/stop detection of film sample, multi-cut films possible；

Easy configurable auto filters (wrinkle detection)；

Data export tools；

Capacitive measuring with adjustable number of points；

Display of raw data and filtered data (%, μm, 2-Sigma, 3-Sigma)；

Mechanical measuring according to ISO 4593 by integrated micrometer；

No need of guiding roller assemblies；

技術(shù)參數(shù)：

薄膜樣品寬度：75-95mm
薄膜樣品長度：可達(dá)25m
厚度測量范圍：5微米到500微米
測量速度：可達(dá)60mm/S （連續(xù)電容模式）
測量間隔：50ms,
分辨率：0.1微米
精度：0.2微米機(jī)械/1%電容

薄膜電容式測厚儀采用電容傳感器精度高、能量損耗小、無接觸磨損等特點(diǎn)，制作了符合薄膜厚度測量要求的傳感器探頭，并在此基礎(chǔ)上設(shè)計了電容傳感器信號檢測電路。

1、定點(diǎn)測量和掃描測量：

定點(diǎn)測量的位置可在掃描范圍內(nèi)任意設(shè)置。

掃描測量的范圍可根據(jù)被測材料的寬度來確定。

2、自動完成定時標(biāo)定或手動標(biāo)定，定時標(biāo)定的時間間隔可設(shè)置。

3、位置補(bǔ)償標(biāo)定。

4、系統(tǒng)故障的自動檢測、顯示和處理。