北京華沛智同科技發(fā)展有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第10年

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GI20干涉儀
  • GI20干涉儀
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 英國(guó)

更新時(shí)間：2024-11-25 16:36:16

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The GI20 grazing incidence interferometer provides high precision flatness measurement, suitable for use with lapped and semi-polished surfaces up to 150mm （6"）Ø.

The GI20 grazing incidence interferometer provides high precision flatness measurement, suitable for use with lapped and semi-polished surfaces up to 150mm (6”)Ø. Unlike conventional fizeau interferometers, the GI20 can measure

non-reflective surfaces, ideal for analysing lapped and/or ground surfaces prior to final polishing. The interferogram is displayed on a LCD screen on the front of the unit.

• High precision flatness measurement of ground, lapped or semi-polished samples

• Measure 2μm per fringe with excellent clarity

• Surface roughness measurement from 1nm to 300nm Ra

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