特點：國標冷熱沖擊試驗箱

　　1產(chǎn)品外形美觀、結構合理、工藝精良、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設備性能。設備分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采*之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物*靜止，應用冷熱風路切換方式將冷,熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的.

　　2采用采用的計測裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機觸控對話式LCD人機接口控制器,操作簡單, 學習容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設定程序曲線。具96個試驗規(guī)范獨立設定,沖擊時間999小時59分鐘, 循環(huán)周期1~999次可設定, 可實現(xiàn)制冷機自動運轉，zui大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行；

　　3箱體左側具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負載配線測試部件。可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時,可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進行沖擊之功能，具備高低溫試驗機的功能。

　　4具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制,溫度控制精度高.*科學的空氣流通循環(huán)設計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設備的長期可靠性

　　5可設定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動） 除霜. 出風口于回風口感知器檢測控制，風門機構切換時間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復時間為5分鐘內(nèi)完成。運轉中狀態(tài)顯示及曲線顯示,發(fā)生異常狀況時,螢幕上即刻自動顯示故障點及原因和提供排除故障的方法,并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時,具有緊急停機裝置。

　　6冷凍系統(tǒng)采用復迭高效低溫回路系統(tǒng)設計，冷凍機組采用歐美*壓縮機，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R507，R23.*安全保護功能：電源過載保護、漏電保護、控制回路過載、短路保護、壓縮機保護、接地保護、超溫保護、報警聲訊提示等。

國標冷熱沖擊試驗箱

冷熱沖擊箱主要技術指標

1、工作室尺寸：
　　測試區(qū)尺寸： 冷熱沖擊箱80L/108L/150L
    
    80L:內(nèi)箱尺寸為50cm*40cm*40cm 

 108L:內(nèi)箱尺寸為60cm*40cm*45cm 

150L內(nèi)箱尺寸為60cm*50cm*50cm

　　2、溫度范圍：　高溫箱＋60℃～200℃

　　低溫箱－70～－10℃

　　3溫度波動度：±0.5℃

　　4、溫度誤差：≤±3℃

　　5、升溫速率：30℃～＋150℃　≤30min

　　6、降溫速率：＋30℃～－55℃　≤75min

　　以上指標均在常壓、空載條件情況下測試。

　　7、樣品轉換時間：≯15ｓ

　　8、溫度恢復時間.

　　9、＋150℃～－40℃溫度沖擊恢復時間，≤5min

　　試驗狀態(tài)：預冷溫度：－55℃

　　10、－40℃～＋150℃溫度沖擊恢復時間，≤5min

　　試驗狀態(tài)：預熱溫度：180℃

　　溫度沖擊恢復時間以傳感器測試位置為準

　　11、電　源：380V、50HZ；三相五線制.

　　12、功　率：約45KW.

　　13、傳感器位置：出風口；

四：溫度沖擊箱滿足的試驗方法

　　1、GB2423.1－89　試驗A低溫試驗方法

　　2、GB2423.2－89　試驗B高溫試驗方法

　　3、GB2423.22－89　試驗N溫度變化試驗方法

　　4、GJB150.3-86　高溫試驗

　　5、GJB150.4－86　低溫試驗方法

　　6、GJB150.5－86　冷熱沖擊試驗

　　7、產(chǎn)品執(zhí)行標準

　　8、GB10589－89　低溫試驗箱技術條件

　　9、GB11158－89　高溫試驗箱技術條件

　　10、GB10592-89　高、低溫試驗箱技術條件

　　11、配件技術資料及附件

   12、技術資料：產(chǎn)品合格證、使用說明書、電氣原理圖、保修卡、外購件合格證及外購件使用說明書等

冷熱沖擊箱詳細資料：
用途

　　冷熱沖擊箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學變化或物理傷害，可確認產(chǎn)品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具.