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Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 F40
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海

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更新時間:2024-08-08 10:22:43瀏覽次數(shù):2720

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產(chǎn)品簡介

Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ,精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

詳細介紹

Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀-膜厚儀

       結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

       

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

      Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

      當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行,或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時,F(xiàn)40是優(yōu)先的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡,再進行測量,即可獲得的厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件,F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭,可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。


Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀

* 取決于材料

1.使用5X物鏡參考

2.是基于連續(xù)20天,每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

3.是基于連續(xù)20天,每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的2倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量

• 24小時電話,郵件和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件



附 加 特 性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲,重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果



相關(guān)應(yīng)用

半導(dǎo)體制造                              生物醫(yī)學(xué)原件

• 光刻膠                               • 聚合物/聚對二甲苯

• 氧化物/氮化物                         • 生物膜/球囊壁厚度

• 硅或其他半導(dǎo)體膜層                       • 植入藥物涂層


微電子                                  液晶顯示器

• 光刻膠                                • 盒厚

• 硅膜                                 • 聚酰亞胺

•氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                      • 導(dǎo)電透明膜






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