詳細(xì)摘要： 美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。

詳細(xì)摘要： B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號(hào)采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)操作。測量時(shí)將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置...

詳細(xì)摘要： TABLE STABLE主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防震臺(tái) 主動(dòng)式減震方案，應(yīng)用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動(dòng)式隔震系統(tǒng)AVI-400可參照詳情

詳細(xì)摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜測量儀同步測量薄膜的反射率/穿透率，F(xiàn)10-RT使Filmetrics的分析能力實(shí)現(xiàn)了同步測量反射率與穿透率。只要立即的...

詳細(xì)摘要： HERZ TS系列 主動(dòng)式隔震系統(tǒng) 防振臺(tái)，主動(dòng)式隔震系統(tǒng)創(chuàng)建一個(gè)穩(wěn)定的測量環(huán)境。如需了解更多，咨詢。。。

詳細(xì)摘要： Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費(fèi)離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果

詳細(xì)摘要： Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測量 同步測量薄膜的反射率/穿透率，如需了解更多，查詢。。。。

詳細(xì)摘要： 桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學(xué)膜厚測量儀自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的...

詳細(xì)摘要： Surface Stylus Profilers 探針式表面輪廓儀 P-7KLA是半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)、 MEMS 、太陽能、光...

詳細(xì)摘要： Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀是一款緊湊牢固的全集成光學(xué)輪廓顯微鏡，可以提供3D量測和成像功能。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Co...

詳細(xì)摘要： Filmetrics 已經(jīng)讓光學(xué)輪廓測量變得容易承受。Filmetrics Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直掃描干涉技術(shù) （VSI ），結(jié)合可選的高精度相...

詳細(xì)摘要： Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反...

詳細(xì)摘要： Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非常快速的定位所需測...

詳細(xì)摘要： Film Sense FS-1多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度...

詳細(xì)摘要： iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級(jí)測試等多種納米級(jí)機(jī)械測試。 該儀器的...

詳細(xì)摘要： iMicro為壓痕、硬度、劃痕測試和多元化納米級(jí)測試等納米級(jí)力學(xué)測試設(shè)計(jì)。iMicro具有多量程加載驅(qū)動(dòng)器，實(shí)現(xiàn)在寬泛的荷載和位移的范圍內(nèi)進(jìn)行測量。iMicro...

詳細(xì)摘要： 光學(xué)表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術(shù)。以低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形...

詳細(xì)摘要： 光學(xué)3d表面輪廓儀讓3D光學(xué)輪廓測量的價(jià)格變得能夠接受。Profilm3D使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI）技術(shù)。以很低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的...

詳細(xì)摘要： 光學(xué)輪廓儀廠家支持3D量測和成像功能，并提供整合隔離工作臺(tái)和晶圓盒到晶圓盒的晶圓傳送系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測量。該系統(tǒng)采用ZDot技術(shù)，可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和...

詳細(xì)摘要： -Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常熟，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)20都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過...