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CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測(cè)量?jī)x 測(cè)厚儀
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貨物所在地： 上海上海
產(chǎn)地： 美國(guó)
更新時(shí)間： 2024-10-10 21:00:07
有效期： 2024年10月10日--2025年4月10日
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CDE DualMap 薄膜厚度測(cè)量 測(cè)厚儀，在可靠并受廣受歡迎的ResMap 168 平臺(tái)的基礎(chǔ)上，CDE DualMap 集成了一套的光譜膜厚測(cè)量系統(tǒng)，從而獲得了高精度的薄膜厚度測(cè)量能力。。。。。。

詳細(xì)介紹

CDE DualMap 薄膜厚度測(cè)量

 

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