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F40薄膜測厚儀-Filmetrics 光學薄膜測厚儀
  • F40薄膜測厚儀-Filmetrics 光學薄膜測厚儀
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貨物所在地：上海上海

產(chǎn)地： 美國

更新時間：2025-10-28 21:00:07

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Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。

Filmetrics 光學薄膜測厚儀

 

 

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