德國(guó)HEW,電機(jī) RDMF 90 L/ 12 TVR 德國(guó)HEW,電機(jī) RDMF 90 L/ 12 TVR

REXROTH R911310167  MSK101D-0450-NN-M1-AG0-NNNN 伺服電機(jī)

SCHUNK 0303538 夾爪

K&N KG64B-T204/01E 旋轉(zhuǎn)主電源開(kāi)關(guān)部件

CLAMPEX 203 - 55X85

HONSBERG ORDER CODE: MR1K-008GM004-304 流量監(jiān)控器

WACHE L-ALTH 151K-FI-FS 腳輪

TR QEH81M-10006 編碼器

JANITZA 1503583 KUW4.2/60-400/1A

TR CEV65M-01460 編碼器

ROSENBERG N63-31586  EKHR 315 - 2SH.070.5HA-011 風(fēng)機(jī)

EGE P11109  LN 450 GR-S 流量計(jì)

IFM OGH200 傳感器

PREVOST RPD MR0802 外螺紋直接頭

SCHUNK 9939376 定位環(huán)

PILZ 750107 繼電器

CLAMPEX 201 - 65 X 95

PREVOST RPD MR0801 外螺紋直接頭

GW INSTEK GW-PSW30-36 可編程電源

HONSBERG ORDER CODE: MR1K-020GM004-298 流量監(jiān)控器

PREVOST RPD MR1201 快插接頭

PILZ 750103 繼電器

WURTH 0893449

MP FILTRI MPF1003AH3P01 濾油器

BRAUN 155432

SIGMATEK 00187524 SPS-DIAS ANALOGMISCHMODUL DAM122 模擬量輸入/輸出模塊

MICROSONIC MIC+130/EE/TC 超聲波傳感器

RITTAL SK 3396278

SACEMI ART.MU.218, SP 150 泵

PREVOST RPD MR1202 外螺紋直接頭

METAL WORK ARTIKELNR.909708 NR. 121A500030CP 氣缸

SCHUNK 0301370 磁性開(kāi)關(guān)

DELTA DE0551  ES 030-5 可編程電源

BUCHER 400562474 SWDRVPD-5DO-10-P-E-6 24D

GROSCHOPP ARTIKEL VE31-K-R-31

AUTZ + HERRMANN 53495  P10850_400 旋轉(zhuǎn)視窗

L+B GEL208Y020

WURTH 71406760 螺栓割刀

ELFIN 050C7 連接器

PILZ 774303 繼電器

一.帶程序的芯片

1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在測(cè)試中不會(huì)損壞程
wifi顯微鏡進(jìn)行電路板檢測(cè)
wifi顯微鏡進(jìn)行電路板檢測(cè)
序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時(shí)間的推移(年頭長(zhǎng)了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.

2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測(cè)試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們?cè)谟龅竭@種情況時(shí),還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過(guò) 多次試驗(yàn),可能大的原因是:檢修工具(如測(cè)試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.

3.對(duì)于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來(lái).

二.復(fù)位電路

1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時(shí),應(yīng)注意復(fù)位問(wèn)題.

2.在測(cè)試前裝回設(shè)備上,反復(fù)開(kāi),關(guān)機(jī)器試一試.以及多按幾次復(fù)位鍵.

三.功能與參數(shù)測(cè)試

1.<測(cè)試儀>對(duì)器件的檢測(cè),僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不 能測(cè)出工作頻率的高低和速度的快慢等具
便攜顯微鏡進(jìn)行電路板檢測(cè)
便攜顯微鏡進(jìn)行電路板檢測(cè)
體數(shù)值等.

2.同理對(duì)TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無(wú) 法查出它的上升與下降沿的速度.

四.晶體振蕩器

1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計(jì)測(cè)試,萬(wàn)用表等無(wú)法測(cè)量, 否則只能采用代換法了.

2.晶振常見(jiàn)故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開(kāi)路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測(cè)試儀>的VI曲線應(yīng)能測(cè)出.

3.整板測(cè)試時(shí)可采用兩種判斷方法:a.測(cè)試時(shí)晶振附近既周圍的有關(guān) 芯片不通過(guò).b.除晶振外沒(méi)找到其它故障點(diǎn).

4.晶振常見(jiàn)有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨 意短路.五.故障現(xiàn)象的分布 1.電路板故障部位的不*統(tǒng)計(jì):1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,

3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢(shì)).

2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問(wèn)題時(shí),又沒(méi)有好板子,既 不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.