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首頁>>上海倍藍光電科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>粒子物性評價系統(tǒng)

  • ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng)ELSZ-2000系列 參考價:面議

    zeta電位分析儀,ZETA電位·粒徑·分子量測系統(tǒng)ELSZ-2000系列可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    zeta電位分析儀
    2025/2/14 12:37:051794
  • 多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA 參考價:面議

    多檢體納米粒徑量測系統(tǒng)nanoSAQLA利用動態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測量(粒徑0.6nm~10μm)儀器??蓪?yīng)檢體范圍廣,低濃度~高濃度類,新光學(xué)系,輕...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:上海市 對比
    粒徑測量多檢體納米粒徑量測系
    2025/2/14 12:34:381019
  • 顯微分光膜厚儀(OPTM系列) 參考價:面議

    顯微分光膜厚儀(OPTM系列)使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜...
    型號: 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地: 對比
    2025/2/14 12:32:321029

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