USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀

USPM-RU III反射儀可精確測(cè)量當(dāng)前分光儀無(wú)法測(cè)量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會(huì)與樣本背

面的反射光產(chǎn)生干涉。是適合測(cè)量曲面反射率、鍍膜評(píng)價(jià)、微小部品的反射率測(cè)定系統(tǒng)。

消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。                     
不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。

• 可測(cè)定微小區(qū)域的反射率
  用物鏡對(duì)焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

• 測(cè)定時(shí)間短
  由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測(cè)光機(jī)構(gòu)，可以進(jìn)行快速、再現(xiàn)性很高的測(cè)定。

• 支持XY色度圖、L*a*b*測(cè)定
  可以依據(jù)分光測(cè)色法，通過(guò)分光反射率測(cè)定物體顏色。

• 可以測(cè)定高強(qiáng)度鍍膜的膜厚
  采用干涉光分光法，可以在不接觸、無(wú)損的情況下測(cè)定被檢物的膜厚（單層膜）。

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