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目錄:儀景通光學(xué)科技(上海)有限公司>>無損檢測(cè)產(chǎn)品>>無損探傷儀>> OmniScan X4相控陣兼TFM探傷儀

相控陣兼TFM探傷儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 型號(hào) OmniScan X4
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2024-12-20 15:54:41瀏覽次數(shù):621評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 其他 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,地礦,能源,交通,航天
OmniScan X4多技術(shù)系列儀器是一種功能強(qiáng)大的便攜式解決方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同時(shí)增強(qiáng)您對(duì)評(píng)估工作的信心。利用其高級(jí)相控陣功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和創(chuàng)新型相位相干成像(PCI)技術(shù),可以探測(cè)和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷,并通過更早地識(shí)別損傷來確保資產(chǎn)的完整性。

OmniScan X4多技術(shù)系列儀器是一種功能強(qiáng)大的便攜式解決方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同時(shí)增強(qiáng)您對(duì)評(píng)估工作的信心。利用其高級(jí)相控陣功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和創(chuàng)新型相位相干成像(PCI)技術(shù),可以探測(cè)和解讀具有挑戰(zhàn)性的缺陷,并通過更早地識(shí)別損傷來確保資產(chǎn)的完整性。

相控陣兼TFM探傷儀


性能優(yōu)異,值得信賴

每臺(tái)OmniScan X4儀器堪稱一個(gè)無所不包的多技術(shù)檢測(cè)工具箱,可使您利用多種超聲檢測(cè)技術(shù)。利用其檢測(cè)和測(cè)量功能,可在損壞變得嚴(yán)重之前準(zhǔn)確識(shí)別和評(píng)估損壞的嚴(yán)重程度,從而保護(hù)那些容易出現(xiàn)裂紋或腐蝕的焊縫、部件和資產(chǎn)。


使用PCI進(jìn)行可靠評(píng)估

在探測(cè)和突出顯示以往難以檢測(cè)的缺陷時(shí),如鉤狀裂紋和應(yīng)力腐蝕開裂(SCC),相位相干成像技術(shù)有助于消除疑慮。使用PCI可以清楚地區(qū)分細(xì)小裂紋群中的單個(gè)缺陷,并可靠地進(jìn)行表征。


相控陣兼TFM探傷儀


TFM采集率提高了3倍

由于OmniScan X4系列儀器處理能力的提升,獲得清晰TFM圖像的速度比上一代型號(hào)(X3 64)快了三倍*。OmniScan X4 64:128PR儀器擁有128個(gè)晶片能力,速度更快,可以利用其擴(kuò)展的聚焦功能進(jìn)行TFM檢測(cè)。

*達(dá)到這一速度取決于配置和稀疏發(fā)射的使用。


獲得即時(shí)洞察力,消除低效率問題

TFM和PCI雙重技術(shù)讓您信心倍增

采用具有不同特性的PCI和TFM兩種技術(shù),同時(shí)從焊縫兩側(cè)徹查整個(gè)焊縫體積。使用兩個(gè)探頭對(duì)焊縫進(jìn)行一次性掃查,即可顯示TFM和PCI結(jié)果,以便高效精確地比較、測(cè)量和確認(rèn)缺陷特征。


設(shè)計(jì)宗旨是提高速度和簡(jiǎn)化操作

在OmniScan X4系列儀器上可以簡(jiǎn)單直觀地進(jìn)行相控陣、TOFD、TFM和PCI檢測(cè)。任何經(jīng)驗(yàn)水平的檢測(cè)人員都可以利用這些技術(shù),通過簡(jiǎn)單的逐步掃查計(jì)劃和應(yīng)用預(yù)設(shè),提高效率,增強(qiáng)信心。


便捷的應(yīng)用預(yù)設(shè)

OmniScan X4的應(yīng)用預(yù)設(shè),可以改善學(xué)習(xí)曲線,提高檢測(cè)在不同操作員之間的可靠性和一致性。即使是低級(jí)別用戶和新用戶也可以在幾分鐘內(nèi)完成優(yōu)質(zhì)的PA或PCI配置。

通過腐蝕和復(fù)合材料檢測(cè)選項(xiàng),這些預(yù)編程參數(shù)簡(jiǎn)化了使用HydroFORM、FlexoFORM和RollerFORM掃查器的掃查設(shè)置,而且您還可以根據(jù)需要調(diào)整設(shè)置。


簡(jiǎn)化了復(fù)雜配置

OmniScan X4掃查計(jì)劃的直觀分步3D圖形可簡(jiǎn)化從基本到復(fù)雜的各種檢測(cè)設(shè)置。

在設(shè)置光柵掃查計(jì)劃時(shí),可以自行命名掃查軸,還可以創(chuàng)建相對(duì)于資產(chǎn)的基準(zhǔn)參考點(diǎn)。這些真實(shí)世界的參考以及真實(shí)方向的校正,大大地方便了為報(bào)告創(chuàng)建直觀的檢測(cè)數(shù)據(jù)示意圖的操作。


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