詳細(xì)摘要： 供應(yīng)進(jìn)口(二手熱重)tga熱重分析儀在振動(dòng)性、穩(wěn)定性、噪聲水平、室溫波動(dòng)的耐受性等測試中的表現(xiàn)都非常令人滿意?？汕逦鷻z測出樣品幾微克（的重量變化。另有高溫型（ H-型）以及大樣品量型（51-型）可滿足陶瓷、催化劑等領(lǐng)域的應(yīng)用需要。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)（二手）TA-DMA-Q800是TA儀器中的熱動(dòng)態(tài)機(jī)械分析DMA儀器，能為各種應(yīng)用提很好的解決方案。它巧妙地應(yīng)用了非接觸馬達(dá)的施加應(yīng)力以及低摩擦的空氣軸承技術(shù)。應(yīng)變的測量是通過光學(xué)編碼器，實(shí)現(xiàn)靈敏度和分辨率配合。

詳細(xì)摘要： （二手）美國TA-DMA-Q800動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀（DMA）是讓材料在周期變化的應(yīng)力作用下，測定其模量（剛性）和阻尼（能量損耗）特性。Q800動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀主要由馬達(dá)和位移傳感器兩大部分構(gòu)成，它巧妙地應(yīng)用了非接觸馬達(dá)精確的施加應(yīng)力以及低摩擦的空氣軸承技術(shù)，應(yīng)變的測量是通過光學(xué)編碼器，實(shí)現(xiàn)靈敏度和分辨率。通過儀器測量可以提供材料性能方面定性和定量的信息，為材料分析提供了方案。

詳細(xì)摘要： 二手TA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀DMA-Q800DMA動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀用來測定在周期性振動(dòng)應(yīng)力下，材料隨時(shí)間、溫度或頻率變化而變化的力學(xué)性能和粘彈性能。應(yīng)用于熱塑性塑料、熱固性材料、復(fù)合材料、彈性體、陶瓷、金屬和其它粘彈性材料以及纖維、薄膜等。

詳細(xì)摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強(qiáng)大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號，被檢測到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級電子束對表面進(jìn)行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點(diǎn)之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)二手島津edx-le/7000/8000能量色散X射線熒光光譜儀使用X射線照射樣品，測量所產(chǎn)生的熒光X射線的能量（波長）和強(qiáng)度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由于X射線熒光光譜法可以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可以快速、非破壞性的測試印刷電路板和其他電子設(shè)備中有害元素，因此被廣泛用于全球的電子電氣和汽車制造企業(yè)，應(yīng)用于符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和質(zhì)量控制。

詳細(xì)摘要： 二手島津EDX-LE/7000/8000在當(dāng)今快速發(fā)展的科技和工業(yè)領(lǐng)域，精確的元素分析對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、滿足法規(guī)要求以及推動(dòng)科研創(chuàng)新至關(guān)重要。島津企業(yè)推出的能量色散型X熒光光譜儀EDX-LE/7000/8000，正是這樣一款集高效、準(zhǔn)確與便捷于一體的分析儀器，廣泛應(yīng)用于RoHS/ELV法規(guī)限制的有害元素篩選分析、材料科學(xué)研究、環(huán)境監(jiān)測以及眾多工業(yè)領(lǐng)域。

詳細(xì)摘要： 二手ICP-OES重金屬測試儀提供出性能、快的分析速度和高的穩(wěn)定性。密封的設(shè)計(jì)的新一代VistaChipIICCD檢測器提供的分析性能。配合多種可選附件和軟件平臺，720系列ICP-OES能夠滿足各種類型實(shí)驗(yàn)室的分析需求。

詳細(xì)摘要： 二手JSM-7610Fplus場發(fā)射電鏡應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

詳細(xì)摘要： 二手耐馳 dsc 200F3是一款經(jīng)濟(jì)適用、易操作、多用途的DSC，它的量熱性能絕不遜色于許多研發(fā)級的產(chǎn)品。這系列產(chǎn)品被定位為入門級儀器不是基于性能而是基于選配件的不同。應(yīng)用于科研、教學(xué)和質(zhì)量控制等需要耐用、可靠、基本的DSC的理想測試工具?？捎糜跓o人照看的多至50個(gè)樣品的順序測試。均包括雙氣路數(shù)字質(zhì)量流量控制器且可選配.

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 進(jìn)口二手dsc-tga-tma-dma：熱分析是指用熱力學(xué)參數(shù)或物理參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系進(jìn)行分析的方法。熱分析定義為：“熱分析是測量在程序控制溫度下，物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度依賴關(guān)系的一類技術(shù)。"根據(jù)測定的物理參數(shù)又分為多種方法

詳細(xì)摘要： 二手dsc 二手熱分析儀DSC是德國耐馳公司新推出的一款差示掃描量熱儀，該產(chǎn)品引入了 DSC領(lǐng)域i新技術(shù)，重新設(shè)計(jì)了傳感器與爐體結(jié)構(gòu)，集結(jié)構(gòu)堅(jiān)固、易于操作、高靈敏度、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn)為一體，若使用液氮作為冷卻系統(tǒng)，溫度范圍可至170度…600度。

詳細(xì)摘要： 二手耐馳dsc-200 f3 是德國耐馳公司最新推出的一款差示掃描量熱儀，該產(chǎn)品引入了 DSC 領(lǐng)域，重新設(shè)計(jì)了傳感器與爐體結(jié)構(gòu)，集結(jié)構(gòu)堅(jiān)固、易于操作、高靈敏度、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn)為一體，溫度范圍寬廣，可配備多種冷卻方式。DSC 200 F3 可以配備帶 20 個(gè)樣品／參比位的自動(dòng)進(jìn)樣器（ASC），可在一次自動(dòng)進(jìn)樣中使用不同類型的坩堝，這對于工業(yè)領(lǐng)域大批量的日常檢測尤為有用。

詳細(xì)摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高，可觀察到納米級別的細(xì)節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時(shí)進(jìn)行成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，能夠?qū)崿F(xiàn)對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息

詳細(xì)摘要： 二手蔡司電鏡 SEM+EDX+EBSDSUPRA 40是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94