沖擊試樣缺口夏比投影儀

一、用途與特點(diǎn)：

　沖擊試樣缺口夏比投影儀是于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。
　是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀、效率高，是目前*切實(shí)可行、并能保證檢查質(zhì)量的方法，是相關(guān)理化試驗(yàn)室的*儀器。

二、主要技術(shù)參數(shù)：

1. 放大倍數(shù)：50×；

2. 投影屏尺寸：ф200mm;

3. 工作臺(tái)位移：縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無(wú)刻度)；

4. 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0～360о（無(wú)刻度）；

5. 光源：鹵鎢燈12V 100W;

6. 電源：200V 50HZ 150W;

7. 外形尺寸：515×224×603mm;

8. 重量： 約18kg。

沖擊試樣缺口夏比投影儀

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