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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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fischerscope x-ray xul xym上海 簡單介紹：fischerscope x-ray xul xym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2024-03-20 |
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德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 簡單介紹：德國菲爾希x-ray膜厚測試儀總代理 FISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗，并且仍在不斷的發(fā)展中。確定細小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測量， 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2023-07-12 |
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x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb 簡單介紹：x射線鍍層測厚儀_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測量系統(tǒng)擁有良好的多毛細孔X射線聚焦裝置，既能有效地縮小測量點的面積，又能大幅加強射線的強度。儀器配備了大面積硅漂移探測器，特別適用于在小工件上測量非常薄鍍層的厚度或者進行痕量分析。 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2021-05-13 |
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X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀 簡單介紹：X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測厚儀 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2021-04-16 |
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菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd 簡單介紹：菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2021-02-23 |
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 簡單介紹：Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2020-12-28 |
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德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 簡單介紹：德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2020-11-06 |
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XULM 240德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 簡單介紹：德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復(fù)精度可達2.5nm。 產(chǎn)品型號：XULM 240 所在地：上海市 更新時間：2020-09-17 |
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Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀 簡單介紹：Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面 產(chǎn)品型號： 所在地：上海市 更新時間：2020-09-17 |
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