篤摯儀器(上海)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國(guó)馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國(guó)馬爾 Mahr

德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國(guó)菲希爾Fischer測(cè)厚儀

德國(guó)Elektrophysik(EPK)

德國(guó)尼克斯QNix測(cè)厚儀

德國(guó)BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國(guó)狄夫斯高Defelsko

美國(guó)GE通用電氣

美國(guó)zygo干涉儀

美國(guó)API激光干涉儀

美國(guó)OGP影像測(cè)量?jī)x

美國(guó)康寧CORNING TROPEL

美國(guó)環(huán)球Universal

美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢(shì)Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無損檢測(cè)系統(tǒng)

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共計(jì) 171 條產(chǎn)品信息

產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱
COULOSCOPE CMS2 STEP用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x
COULOSCOPE CMS2 STEP用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x
簡(jiǎn)單介紹:用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量?jī)x
庫(kù)侖法的成本效益高,可準(zhǔn)確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了很大的靈活性,因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中,以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。
產(chǎn)品型號(hào):COULOSCOPE CMS2 STEP   所在地:上海市   更新時(shí)間:2022-03-14
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x射線鍍層測(cè)厚儀_xdv-µ-pcb
x射線鍍層測(cè)厚儀_xdv-µ-pcb
簡(jiǎn)單介紹:x射線鍍層測(cè)厚儀_xdv-µ-pcb
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ測(cè)量系統(tǒng)擁有良好的多毛細(xì)孔X射線聚焦裝置,既能有效地縮小測(cè)量點(diǎn)的面積,又能大幅加強(qiáng)射線的強(qiáng)度。儀器配備了大面積硅漂移探測(cè)器,特別適用于在小工件上測(cè)量非常薄鍍層的厚度或者進(jìn)行痕量分析。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-05-13
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fischer(品牌)fisherscope.mms.pc2
fischer(品牌)fisherscope.mms.pc2
簡(jiǎn)單介紹:fischer(品牌)fisherscope.mms.pc2
對(duì)多功能MMS PC2測(cè)量系統(tǒng)的投資可以減少測(cè)量和測(cè)試產(chǎn)品所需的時(shí)間,增加靈活性。例如,當(dāng)與PERMASCOPE®和SIGMASCOPE®插入式模塊及其各自的探頭一起使用時(shí),您可以使用同一儀器測(cè)量涂鍍層厚度和電導(dǎo)率??苫Q的插入式模塊,使用戶無需更換儀器即可運(yùn)用振幅、相敏渦流、磁感應(yīng)測(cè)試方法。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-05-13
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pmp10測(cè)厚儀中文說明書
pmp10測(cè)厚儀中文說明書
簡(jiǎn)單介紹:pmp10測(cè)厚儀中文說明書
簡(jiǎn)要說明: 該儀器是 FISCHER 公司新一代的涂鍍層測(cè)厚儀。它采用大屏幕矩陣顯示器和相位靈敏測(cè)試方法,使用更方便、測(cè)量更正確。
操作原則: 該儀器采用主菜單和多層子菜單的形式,采用對(duì)話框和選擇框的方法,使操作變得簡(jiǎn)單。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-05-12
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納米壓痕儀(fischerscope, hm2000)
納米壓痕儀(fischerscope, hm2000)
簡(jiǎn)單介紹:納米壓痕儀(fischerscope, hm2000)用于分析樣品的楊氏模量、柔度等信息。
FISCHERSCOPE HM 2000是一款專業(yè)的納米壓痕測(cè)量?jī)x器,適用于通過納米壓痕法分析材料的機(jī)械與彈性特性。其非常堅(jiān)固且尺寸穩(wěn)定的構(gòu)造可減少震動(dòng)與溫度波動(dòng)的影響。穩(wěn)定的測(cè)量條件使其非常適用于要求嚴(yán)苛的研發(fā)與工業(yè)應(yīng)用中的測(cè)量任務(wù)。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-05-12
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X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀
簡(jiǎn)單介紹:X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀
在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且準(zhǔn)確地測(cè)定鍍層厚度時(shí),XUL® 系列測(cè)量?jī)x器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量,能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-04-16
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德國(guó)菲希爾fmp10 fta3.3h
德國(guó)菲希爾fmp10 fta3.3h
簡(jiǎn)單介紹:德國(guó)菲希爾fmp10 fta3.3h
篤摯儀器(上海)有限公司代理供應(yīng)的德國(guó)菲希爾FTA3.3H探頭配德國(guó)菲希爾fmp10-40系列主機(jī)可以測(cè)量非磁性金屬基材(NC / NF)上的非導(dǎo)電涂層的厚度。ISOSCOPE FMP10可以測(cè)量非鐵磁金屬基材上涂料、油漆、塑料涂層和陽極氧化層的厚度。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-04-13
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費(fèi)希爾v1fga1hr34膜厚測(cè)試儀探頭
費(fèi)希爾v1fga1hr34膜厚測(cè)試儀探頭
簡(jiǎn)單介紹:費(fèi)希爾v1fga1hr34膜厚測(cè)試儀探頭
v1fga1hr34用于測(cè)量孔,管道或凹槽中的內(nèi)部涂層。 小內(nèi)徑為7毫米。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應(yīng)探頭。特殊的探頭用于測(cè)量直徑大于7mm的軸套或管子內(nèi)部涂層。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-04-13
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fischer孔銅探針603-924價(jià)位 探頭ESL080B
fischer孔銅探針603-924價(jià)位 探頭ESL080B
簡(jiǎn)單介紹:fischer孔銅探針603-924價(jià)位 探頭ESL080B
配合測(cè)量探頭ESL080B測(cè)量線路板上孔內(nèi)的銅壁厚度。
ESL080是一個(gè)針尖形狀的測(cè)量探頭,測(cè)量時(shí)需要插入通孔內(nèi) 。 一個(gè)外部的金屬護(hù)套保護(hù)測(cè)量線圈不受腐蝕和機(jī)械損壞。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-03-16
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hm2000-s fischer納米壓痕儀
hm2000-s fischer納米壓痕儀
簡(jiǎn)單介紹:hm2000-s fischer納米壓痕儀
Fischerscoper HM2000S是一款在微納米級(jí)測(cè)量各類覆蓋層硬度的測(cè)試儀器,例如厚度大于1-2μm的覆蓋層. 同時(shí)也能夠在軟質(zhì)材料上進(jìn)行可靠的測(cè)量,如橡膠或高分子材料。儀器的天然大理石框架確保了整體結(jié)構(gòu)的尺寸穩(wěn)定,抵抗了溫度變化及震動(dòng)的影響。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-02-23
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菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd
菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd
簡(jiǎn)單介紹:菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下,可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率,從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測(cè)下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-02-23
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菲希爾膜厚儀mpo鐵鋁雙用型
菲希爾膜厚儀mpo鐵鋁雙用型
簡(jiǎn)單介紹:菲希爾膜厚儀mpo鐵鋁雙用型
DualScope MP0測(cè)厚儀具有以下特性和功能:數(shù)據(jù)儲(chǔ)存、·統(tǒng)計(jì)計(jì)算、打印口/RS232 接口、無線傳輸、可更換插入式智慧型探頭、集成恒壓探頭、儀器能夠自動(dòng)辨認(rèn)金屬底材物料而選擇合適的測(cè)量方法。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-02-07
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fmp150+fgab1.3ni菲希爾膜厚儀
fmp150+fgab1.3ni菲希爾膜厚儀
簡(jiǎn)單介紹:fmp150+fgab1.3ni菲希爾膜厚儀
德國(guó)FISCHER菲希爾FMP150測(cè)厚儀一臺(tái)儀器具有三種測(cè)量方法(電渦流法、磁感應(yīng)和霍爾效應(yīng))。采用霍爾效應(yīng),擴(kuò)展了可測(cè)量范圍。所有模塊都根據(jù) DIN EN ISO 2178、 ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-02-02
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FERITSCOPE MP30鐵素體測(cè)量?jī)x
FERITSCOPE MP30鐵素體測(cè)量?jī)x
簡(jiǎn)單介紹:FERITSCOPE MP30鐵素體測(cè)量?jī)x
化工和石化工業(yè)越來越多地使用雙相鋼,例如,用于由上述高抗腐蝕雙相不銹鋼制成的反應(yīng)器。 焊接束中的鐵素體缺陷會(huì)在張力或振動(dòng)的影響下導(dǎo)致裂紋。 對(duì)于奧氏體鋼,在焊接部位的鐵素體含量是工件材料機(jī)械強(qiáng)度和抗蝕能力的重要指標(biāo)。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-01-29
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菲希爾總代理FMP30磁感應(yīng)膜厚儀
菲希爾總代理FMP30磁感應(yīng)膜厚儀
簡(jiǎn)單介紹:菲希爾總代理FMP30磁感應(yīng)膜厚儀
菲希爾DeltaScope FMP30磁感應(yīng)膜厚儀可以測(cè)量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度,例如:鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。 FMP30和FMP40型儀器比基本款的FMP10和FMP20型儀器擁有更多的功能。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-01-27
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鐵素體檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家原裝代理
鐵素體檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家原裝代理
簡(jiǎn)單介紹:鐵素體檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家原裝代理
FERITSCOPE根據(jù)磁感應(yīng)方法測(cè)量奧氏體鋼和雙相鋼中的鐵素體含量。儀器能識(shí)別所有的磁性部件,也就是說,除了delta鐵素體,還能識(shí)別其轉(zhuǎn)化形式馬氏體。儀器符合Basler標(biāo)準(zhǔn)和DIN 32514-1標(biāo)準(zhǔn),適合于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),可以測(cè)量奧氏體覆層、不銹鋼管道、容器和鍋爐焊縫內(nèi)以及奧氏體鋼或雙相鋼制造的其他產(chǎn)品內(nèi)的鐵素體含量。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-01-06
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MPO涂層測(cè)厚儀/MP0膜厚儀
MPO涂層測(cè)厚儀/MP0膜厚儀
簡(jiǎn)單介紹:MPO涂層測(cè)厚儀/MP0膜厚儀
DUALSCOPE MP0采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù),是非常小巧并能很大程度滿足您測(cè)量需要的儀器。它測(cè)量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對(duì)不復(fù)雜工件的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量尤為理想。內(nèi)置探頭,采用磁感應(yīng)及電渦流方法,
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2021-01-05
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Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
簡(jiǎn)單介紹:Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2020-12-28
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菲希爾*POROSCOPE HV40孔隙率測(cè)試儀
菲希爾*POROSCOPE HV40孔隙率測(cè)試儀
簡(jiǎn)單介紹:菲希爾*POROSCOPE HV40孔隙率測(cè)試儀
篤摯儀器(上海)有限公司代理供應(yīng)的POROSCOPE 系列,作為一款堅(jiān)固耐用的便攜式測(cè)量設(shè)備,非常適合快速、簡(jiǎn)便地測(cè)試非導(dǎo)電保護(hù)涂層,甚至可發(fā)現(xiàn)非常細(xì)微的小孔和裂痕。提供三種具有不同測(cè)試電壓范圍的儀器版本
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2020-12-17
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MPO膜厚儀*總代理
MPO膜厚儀*總代理
簡(jiǎn)單介紹:MPO膜厚儀*總代理
DUALSCOPE MPO涂層測(cè)厚儀為德國(guó)菲希爾生產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,MPO涂層測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀(P-MP0D)和渦流測(cè)厚儀(I-MP0D)兩種儀器的功能, 德國(guó)菲希爾MP0涂層測(cè)厚儀是D-MP0D型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品??捎糜跍y(cè)量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如:
產(chǎn)品型號(hào):   所在地:上海市   更新時(shí)間:2020-12-04
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