篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計

奧地利EMCOTEST硬度計

表面處理層無損檢測系統(tǒng)

公司信息

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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀XDL-230
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀XDL-230
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時間:2019-09-27 16:55:29瀏覽次數(shù):1791

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【簡單介紹】
價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,冶金,航天,汽車
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀XDL-230
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240
【詳細(xì)說明】

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用手動方式,測量和分析印刷電路板、防護(hù)及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240

X射線鍍層測厚儀簡介:
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/span>
XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。
由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法,因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測量和分析。

設(shè)計理念:
德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能,可以準(zhǔn)確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進(jìn)度。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的準(zhǔn)確調(diào)整。
所有的儀器操作,以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示,都可以通過功能強(qiáng)大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。
XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器,型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。

通用規(guī)格
設(shè)計用途:能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍:從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,多可同時測定24種元素
設(shè)計理念:臺式儀器,測量門向上開啟
測量方向:由上往下

X射線源
X射線管:帶鈹窗口的鎢管
高壓:  三檔: 30 kV,40 kV,50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器): Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸:取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點大小約Ø 0.2mm

X射線探測
X射線接收器:測量距離
比例接收器:0 ~ 80 mm,使用**保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法

樣品定位
視頻系統(tǒng):高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進(jìn)行監(jiān)控十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸) 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于準(zhǔn)確定位樣品
放大倍數(shù):40x – 160x

電氣參數(shù)
電源要求:220 V ,50 Hz
功率:大 120 W (不包括計算機(jī))
保護(hù)等級:IP40

尺寸規(guī)格
外部尺寸:寬×深×高[mm]:570×760×650
內(nèi)部測量室尺寸:寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品大高度”部分的說明)
重量:107 kg

環(huán)境要求
使用時溫度:10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度:0°C – 50°C
空氣相對濕度:≤ 95 %,無結(jié)露

工作臺
設(shè)計:手動X/Y平臺
X/Y平臺大移動范圍:95 x 150 mm
可用樣品放置區(qū)域:420 x 450 mm
Z軸:馬達(dá)驅(qū)動
Z軸移動范圍:140 mm
樣品大重量:20kg
樣品大高度:140 mm
激光(1級)定位點:有

計算單元
計算機(jī):帶擴(kuò)展卡的Windows®計算機(jī)系統(tǒng)
軟件  標(biāo)準(zhǔn): WinFTM® V.6 LIGHT
 



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