篤摯儀器(上海)有限公司

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英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國(guó)馬爾 Mahr

德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國(guó)菲希爾Fischer測(cè)厚儀

德國(guó)Elektrophysik(EPK)

德國(guó)尼克斯QNix測(cè)厚儀

德國(guó)BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國(guó)狄夫斯高Defelsko

美國(guó)GE通用電氣

美國(guó)zygo干涉儀

美國(guó)API激光干涉儀

美國(guó)OGP影像測(cè)量?jī)x

美國(guó)康寧CORNING TROPEL

美國(guó)環(huán)球Universal

美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢(shì)Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)

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Equotip Bambino 2便攜式金屬硬度檢測(cè)儀
Equotip  Bambino 2便攜式金屬硬度檢測(cè)儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌 Proceq/瑞士博勢(shì)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2019-01-17 11:26:11瀏覽次數(shù):1367

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【簡(jiǎn)單介紹】
測(cè)定材料 金屬硬度計(jì) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器類型 便攜式
Equotip Bambino 2便攜式金屬硬度檢測(cè)儀
Equotip 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀,里氏 (Leeb),這一瑞士制造的硬度檢測(cè)儀外殼堅(jiān)固,設(shè)計(jì)為在實(shí)驗(yàn)室、工場(chǎng)、生產(chǎn)設(shè)備或現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行便攜式硬度檢測(cè)。
【詳細(xì)說(shuō)明】

Equotip  Bambino 2便攜式金屬硬度檢測(cè)儀

 

Equotip 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀,里氏 (Leeb),這一瑞士制造的硬度檢測(cè)儀外殼堅(jiān)固,設(shè)計(jì)為在實(shí)驗(yàn)室、工場(chǎng)、生產(chǎn)設(shè)備或現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行便攜式硬度檢測(cè)。

結(jié)構(gòu)小巧、外殼堅(jiān)固的高集成一體式里氏 硬度檢測(cè)儀。非常適合快速現(xiàn)場(chǎng)硬度檢測(cè)。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數(shù)據(jù)傳送至電腦。

?快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的入門級(jí)型號(hào)

?緊湊外殼和自動(dòng)角度糾正便于靈活使用

?具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度

Equotip Piccolo/Bambino 2
袖珍式硬度檢測(cè)
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 均適合檢測(cè)壓痕應(yīng)盡可能小的現(xiàn)場(chǎng)金屬硬度檢測(cè)。它們均提供 D 沖擊裝置,可與選配的 DL 沖擊裝置互換。您可使用這些裝置在受限區(qū)域執(zhí)行測(cè)量。Equotip Piccolo 2 還額外提供用戶定義的硬度轉(zhuǎn)換、系統(tǒng)性硬度實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和 Equotip Piccolo 2 設(shè)置的遠(yuǎn)程控制。

主要附件
沖擊裝置 DL - 這是 Proceq 提供的功能。它允許用戶使用 Piccolo 2 / Bambino 2 快速簡(jiǎn)便地互換 D 和 DL 沖擊裝置。
測(cè)試塊 - 在參考硬度對(duì)象上定期執(zhí)行 3 到 10 次的測(cè)試沖擊是很有必要,這可用于驗(yàn)證Equotip 儀器能否正確操作。根據(jù)用戶的硬度要求,可使用各種測(cè)試塊。為了更加方便,
測(cè)試塊還以不同標(biāo)度指示出參考硬度值。
支撐環(huán) - 里氏回彈檢測(cè)儀僅當(dāng)沖擊體在沖擊過(guò)程中距測(cè)試表面適當(dāng)距離時(shí)才能正確工作。多種型號(hào)的支撐環(huán)允許在各種形狀的目標(biāo)上進(jìn)行測(cè)試,即平面、凹面或凸起柱面、球形測(cè)試表面等


 


 



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