篤摯儀器(上海)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國(guó)馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel

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英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國(guó)馬爾 Mahr

德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國(guó)菲希爾Fischer測(cè)厚儀

德國(guó)Elektrophysik(EPK)

德國(guó)尼克斯QNix測(cè)厚儀

德國(guó)BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國(guó)狄夫斯高Defelsko

美國(guó)GE通用電氣

美國(guó)zygo干涉儀

美國(guó)API激光干涉儀

美國(guó)OGP影像測(cè)量?jī)x

美國(guó)康寧CORNING TROPEL

美國(guó)環(huán)球Universal

美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢(shì)Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)

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[供應(yīng)]牛津CMI 760印刷電路板銅厚測(cè)厚儀
牛津CMI 760印刷電路板銅厚測(cè)厚儀
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
英國(guó)
更新時(shí)間:
2024-08-05 10:52:07
有效期:
2024年8月5日--2025年2月2日
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【簡(jiǎn)單介紹】牛津CMI 760印刷電路板銅厚測(cè)厚儀
CMI 760系列專(zhuān)為滿(mǎn)足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量。
【詳細(xì)說(shuō)明】

牛津CMI 760印刷電路板銅厚測(cè)厚儀

 

 

CMI 760系列專(zhuān)為滿(mǎn)足印刷電路板行業(yè)銅厚測(cè)量和質(zhì)量控制的需求而設(shè)計(jì)。CMI760可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和的測(cè)量。CMI 760臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對(duì)多種探頭的兼容使其滿(mǎn)足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。 同時(shí)CMI760具有良好的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析。 

CMI760:高靈活性的銅厚測(cè)量?jī)x、線路板孔銅&面銅測(cè)厚儀、臺(tái)式測(cè)厚儀,采用微電阻和電渦流方式測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度。具有多功能性、高擴(kuò)展性和良好的統(tǒng)計(jì)功能,統(tǒng)計(jì)功能用于數(shù)據(jù)整理分析。

CMI 760配置包括: 

CMI700主機(jī)及證書(shū) 

SRP-4面銅探頭 

SRP-4探頭替換用探針(1個(gè))

NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用SRP標(biāo)準(zhǔn)片及證書(shū)

ETP孔銅探頭 

NIST認(rèn)證的校驗(yàn)用ETP標(biāo)準(zhǔn)片及證書(shū)

選配配件: 

SRG軟件 

ETP 探頭ETP探頭采用電渦流測(cè)試技術(shù)。電渦流測(cè)試方法指示出印刷電路板穿孔內(nèi)銅厚是否符合要求。*設(shè)計(jì)的探頭使測(cè)量準(zhǔn)確、不受板內(nèi)層影響,即使是雙層板或多層板,甚至在有錫或錫/鉛保護(hù)層的情況下,同樣能夠良好工作。另外,CMI760儀器配ETP 探頭采用溫度補(bǔ)償技術(shù),即使是剛從電鍍槽內(nèi)取出的板,也能實(shí)現(xiàn)對(duì)穿孔內(nèi)鍍銅厚度的測(cè)量。

TRP 探頭配備TRP探頭,CMI760可測(cè)試穿孔的質(zhì)量,包括孔內(nèi)鍍銅的裂縫、空洞和不均勻性。TRP的36-點(diǎn)測(cè)量系統(tǒng)是牛津儀器的,對(duì)穿孔鍍銅品質(zhì)進(jìn)行量化,而且只有牛津儀器擁有這項(xiàng)產(chǎn)品。錐體形的探針確保了三個(gè)接觸點(diǎn)的可重復(fù)性,以保證測(cè)量的準(zhǔn)確性、可重復(fù)性和再現(xiàn)性。



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