篤摯儀器(上海)有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,德國(guó)馬爾粗糙度儀,Mahr,三豐粗糙度儀代理,霍梅爾Hommel |
聯(lián)系電話
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Deltascope MP10E測(cè)厚儀配EGA1.3探頭
測(cè)量范圍: 0 ~ 1 500μm (45 mils)
測(cè)量精度: 0~50 μm, ± 0.25 μm;
50~1000μm, ± 0.5 %;
1000~1500μm, < 2.5%
1.測(cè)試范圍:0至1500μm(連接EGA-2H標(biāo)準(zhǔn)單點(diǎn)探頭)or(0-48mils)。
2.測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):A.磁性,(電感應(yīng)式)(符合)標(biāo)準(zhǔn):ISO 2178,美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)ASTM B499。英國(guó)標(biāo)準(zhǔn):BS 5411及德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)DIN 50981。
3.測(cè)試精度:±1﹪(測(cè)試范圍小于1200μm時(shí))。±2﹪(測(cè)試范圍大于1200μm時(shí))。
4.測(cè)試單位:可依不同探頭自動(dòng)選擇公制(μm)、英制(mils)。
5.操作面板:采防水封密按鍵。
6.平均解析率:0.01μm。
7.測(cè)試*小面積:(A)測(cè)試范圍小于2000 um時(shí),《使用標(biāo)準(zhǔn)單點(diǎn)探頭(EGA2H)或(EGAB1.3)》,直徑3mm(平面)、曲率半徑2mm(曲面)。
8.附連續(xù)掃描測(cè)試功能,可分析膜厚分布變化。
9.自動(dòng)斷電裝置:當(dāng)在連續(xù)不使用狀態(tài),4分鐘即自動(dòng)切斷電源,以節(jié)省電源耗電量。
10.電池電量顯示裝置:在電池電量不足時(shí),液晶即刻顯示。
11.尺寸:160x80x30mm(易于攜帶,重量約280公克)。
12.電源:一般市面上之鈕扣電池9V 1PC。
來自德國(guó)菲希爾的價(jià)格便宜的DELTASCOPE MP10E儀器適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),評(píng)估和輸出, 但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。應(yīng)用程式特定的校準(zhǔn)參數(shù)儲(chǔ)存在測(cè)量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進(jìn)行測(cè)量。 適用于測(cè)量:磁感應(yīng):鐵磁金屬材料上的非鐵磁涂鍍層皆可測(cè)量。如:Fe上鍍 Cu、Cr、Zn、黃銅、油漆、環(huán)氧、塑料……在電鍍業(yè)、五金業(yè)、制造業(yè)、航空、航海等等領(lǐng)域里得到廣泛的應(yīng)用。DELTASCOPE® MP10E配備有一個(gè)特別的和便于讀取的 60 x 30 mm (2.4" x 1.2"))液晶顯示器。大量顯示的信息使得操作異常簡(jiǎn)便,包括單個(gè)測(cè)量讀數(shù),測(cè)量次數(shù),以及顯示操作模式和設(shè)置的圖標(biāo)和符號(hào),2行文本各16個(gè)字母或可自由選擇的符號(hào)用于顯示數(shù)據(jù)和操作員提示。
篤摯儀器(上海)有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有:
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀;
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x;
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺;
==>>德國(guó)EPK(Elektrophysik)手持式涂覆層測(cè)厚儀;
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀;
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀;
==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀;
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺;
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺;
==>>德國(guó)Fraunhofer-IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng);
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器;
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀;
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、*測(cè)長(zhǎng)機(jī);
==>>杭州思看科技三維掃描儀.