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美國(guó)磁通QQI 磁粉探傷試片

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) KSC-230
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 徐州市
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更新時(shí)間:2023-12-04 13:18:44瀏覽次數(shù):1985

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美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率;確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;平衡多向磁場(chǎng)。

詳細(xì)介紹

美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片

I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
 型號(hào):KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸。

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