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接觸電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中的常見問題

2020-8-28 閱讀(1246)

接觸電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中的常見問題

 市場(chǎng)上大多數(shù)接觸電阻測(cè)試儀(也稱為回路電阻測(cè)試儀)的原理是使用典型的四線測(cè)量方法。高頻開關(guān)電源提供的測(cè)試電流大于100A。當(dāng)按下測(cè)量鍵時(shí),高頻開關(guān)電源輸出大于100A的測(cè)試電流。采樣電路開始采樣,獲得的信號(hào)由放大器放大,模擬信號(hào)由A / D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),然后數(shù)據(jù)經(jīng)過微處理器進(jìn)行濾波,計(jì)算和處理,后發(fā)送到顯示屏顯示測(cè)量電流和電阻值,并且當(dāng)電流測(cè)試回路斷開或接觸不良時(shí),儀器將根據(jù)分流器上的電壓判斷電流回路連接不良或斷開。直流電阻快速測(cè)試儀采用了新的電源技術(shù)。具有測(cè)量快速,體積小,使用方便,測(cè)量精度高的特點(diǎn)。它是測(cè)量變壓器繞組和大功率電感設(shè)備的直流電阻的理想設(shè)備。

 

 

現(xiàn)有測(cè)試方法存在的問題

 

根據(jù)常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的接觸電阻測(cè)試儀發(fā)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中存在問題:當(dāng)測(cè)試儀的電壓連接電路接觸不良或斷路時(shí),測(cè)試儀還會(huì)顯示值,此時(shí)將出現(xiàn)以下類型:

 

(1)電壓環(huán)路是開放的,并且在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒有強(qiáng)烈的電場(chǎng)干擾。在這種情況下,由于放大器輸入的差模電壓基本為0,因此儀器顯示的測(cè)試值接近于0。如果接觸電阻測(cè)試儀具有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),則可以判斷為電壓環(huán)測(cè)試線儀器異常。消除儀器的電壓環(huán)路測(cè)試線異常后,可獲得終正確的測(cè)試結(jié)果;如果測(cè)試人員沒有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),則可能會(huì)誤判測(cè)試人員的問題并將其中斷,測(cè)試,更換或退回儀器,會(huì)延遲斷電時(shí)間,并給測(cè)試工作帶來(lái)不必要的麻煩。

 

(2)電壓電路接觸不良,在大多數(shù)情況下,長(zhǎng)期操作后,斷路器的端子會(huì)在端子塊的外表面上產(chǎn)生氧化膜或油膜,當(dāng)電路電阻表的電壓測(cè)試夾連接到這樣的端子排時(shí),這是可能的。如果接觸不良,則不僅是電壓測(cè)試線夾本身,而且是一定的接觸電阻,當(dāng)接觸電阻值達(dá)到電壓采樣電路的內(nèi)部電阻值時(shí),將嚴(yán)重影響測(cè)試結(jié)果。

 

(3)電壓電路斷路或接觸不良(電路斷開時(shí)接觸電阻R1無(wú)窮大),在測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有很強(qiáng)的電磁干擾,例如母線被充電,此時(shí)被充電的母線通過介質(zhì)的空氣電容會(huì)干擾測(cè)試儀中的兩個(gè)。電壓測(cè)試線由于干擾而在環(huán)路測(cè)試儀的電壓采集線上具有差分模式電壓。

 

如果干擾很大,則回路電阻測(cè)試儀將顯示一個(gè)比被測(cè)產(chǎn)品的電阻值大得多的值。此時(shí),如果測(cè)試人員具有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),則可以判斷測(cè)試結(jié)果是否異常,從而引起關(guān)注并終獲得正確的測(cè)試結(jié)果,但是,如果測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足,則可能會(huì)誤判開關(guān)電路的電阻值超出標(biāo)準(zhǔn),并可能會(huì)因斷電而修復(fù)缺陷,從而給功率產(chǎn)生不必要的損失。

 

如果干擾強(qiáng)度不是很大,則儀器的顯示值恰好在斷路器的合格電阻范圍內(nèi),這種情況與(2)“電壓電路接觸不良”的情況相同,也會(huì)引起誤判

 


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