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主營(yíng)產(chǎn)品: 美國(guó)E E傳感器,美國(guó)E E減壓閥,意大利ATOS阿托斯油缸,丹麥GRAS麥克風(fēng),丹麥GRAS人工頭, ASCO電磁閥,IFM易福門(mén)傳感器 |
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2016-12-16 閱讀(603)
納米薄膜電阻式E+E壓力傳感器
從理論上探討了納米薄膜電阻式E+E壓力傳感器的工作原理并設(shè)計(jì)了一種高精度E+E壓力傳感器芯片,提出了適合高精度納米薄膜電阻式E+E壓力傳感器的表征方法,分析了傳感器的轉(zhuǎn)換電路并對(duì)它們進(jìn)行了比較。 采用離子束濺射沉積技術(shù),在經(jīng)過(guò)特殊處理的17-4PH不銹鋼彈性襯底上成功制備了NiCr納米薄膜,成功地制備出了高絕緣性的SiO_2絕緣膜,用絕緣儀在100V直流電壓下測(cè)得絕緣電阻大于10000MΩ。深入地分析了濺射速率、工作氣壓和襯底溫度等參數(shù)對(duì)成膜機(jī)理、薄膜性能結(jié)構(gòu)與生長(zhǎng)速率的影響;理論和實(shí)驗(yàn)相結(jié)合,得出了較合理的薄膜生長(zhǎng)工藝條件;分析了熱處理工藝對(duì)合金薄膜傳感器穩(wěn)定性的影響,提出了一種新型NiCr納米薄膜傳感器芯片熱處理工藝;研制出了高性能納米合金薄膜E+E壓力傳感器芯片,其zui高使用溫度比擴(kuò)散硅式E+E壓力傳感器以及電容式E+E壓力傳感器的zui高使用溫度高100℃,其穩(wěn)定性與傳統(tǒng)粘貼式E+E壓力傳感器相比得到了顯著提高。用SEM分析了納米NiCr薄膜的結(jié)構(gòu)、表面形貌,并用輪廓儀測(cè)量了NiCr薄膜的厚度,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明NiCr薄膜表面形貌均勻連續(xù),厚度為84.4nm。通過(guò)實(shí)驗(yàn)與理論分析,zui終優(yōu)化出了一種制備薄膜電阻式E+E壓力傳感器芯片的新工藝。分析了影響納米薄膜E+E壓力傳感器靈敏度溫度漂移特性的原因,使用C++語(yǔ)言設(shè)計(jì)了靈敏度溫度漂移計(jì)算機(jī)補(bǔ)償軟件,避免了硬件補(bǔ)償技術(shù)本身帶來(lái)的不穩(wěn)定性;用Java語(yǔ)言和數(shù)據(jù)庫(kù)技術(shù)開(kāi)發(fā)了對(duì)傳感器特性和工藝參數(shù)進(jìn)行處理的軟件,大大提高了數(shù)據(jù)管理和數(shù)據(jù)分析的能力,對(duì)傳感器的開(kāi)發(fā)和研究起到了極大的幫助作用。
納米薄膜電阻式E+E壓力傳感器
在前述工作的基礎(chǔ)上成功地研制出了納米薄膜電阻式E+E壓力傳感器,綜合測(cè)試結(jié)果表明該新型傳感器體積小,功耗低,精度達(dá)0.1級(jí),能在高溫(zui高達(dá)200℃)、高壓(zui高達(dá)80Mpa)等惡劣環(huán)境下長(zhǎng)期穩(wěn)定和可靠地工作。在200℃下工作半年,其零點(diǎn)漂移小于0.1%F·S。