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自動(dòng)化抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x常見(jiàn)設(shè)備的接線(xiàn)方法

2024-5-15  閱讀(243)

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自動(dòng)化抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x常見(jiàn)設(shè)備的接線(xiàn)方法

1.儀器引出端子說(shuō)明:

HV ——  儀器的測(cè)量引線(xiàn)高壓端(帶危險(xiǎn)電壓) 

CX ——  正接線(xiàn)時(shí)試品電流輸入端。

   [6A}WY)U3XY[M47DEPPHTRY.png儀器的接地端,使用時(shí)與大地可靠相接

2.參考接線(xiàn)

2.1正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓(常規(guī)正接線(xiàn)):

G[{$DOB(N3NV{$KECJ}F[AJ.png

2.2反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓(常規(guī)反接線(xiàn))

]VPVYDUPNK2GO~84Y1H9TO3.png

2.3正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓:

H3~RCR%YGOQ$SICHCZQ[P]H.png

2.4反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓:

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2.5正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓:

PL}Y0UF@@%0}1AUUPRQ9A%J.png

2.6反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓:

P8GK9({J[W%H4903_$P_7~8.png

2.7正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓(高電壓介損):

7$B0I}7%OXY0KF]RFP%}1QA.png

 2.8反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓:

]K{[EDB640Y33]$YW~G4}W3.png

2.9  CVT自激法測(cè)量:

US%D5U``NKY30IIIKM2QDTQ.png

CVT自激法測(cè)量中,儀器先測(cè)量C1,然后自動(dòng)倒線(xiàn)測(cè)量C2,并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

應(yīng)注意,高壓線(xiàn)應(yīng)懸空不能接觸地面,否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差,可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。

3.附加功能

3.1光標(biāo)在 電壓:10kV上面時(shí)候,按“確認(rèn)"鍵在儀器屏幕的左下角會(huì)出現(xiàn)HEMO~~B3X9@MP8%P)VI`)2A.png圖標(biāo),代表測(cè)試結(jié)束自動(dòng)打印。如果再按確認(rèn)鍵,圖標(biāo)消失,代表測(cè)試結(jié)束必須手動(dòng)才能打印。

3.2光標(biāo)在 反接 上面時(shí)候,在反接線(xiàn),內(nèi)Cn,內(nèi)Un,情況下,按確認(rèn)鍵在儀器屏幕右下角會(huì)出現(xiàn)EEA5{_A8U)NWHPE{%SU1CIM.png圖標(biāo),代表反接線(xiàn)低壓屏蔽測(cè)試。如果再按確認(rèn)鍵,圖標(biāo)消失,代表取消反接線(xiàn)低壓屏蔽。

反接線(xiàn)低壓屏蔽功能,一次接線(xiàn)可同時(shí)測(cè)出C1C2的電容量和介損

 在反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)高壓方式,光標(biāo)移到“反接"處,按“確認(rèn)"右下角顯示“M"。

LLFSZT]}YGKO`WRM@E8LWZB.png


打開(kāi)反接線(xiàn)低壓屏蔽,可在上端電容C1不拆母線(xiàn)的情況下,對(duì)其進(jìn)行不拆線(xiàn)10kV反接線(xiàn)介損測(cè)量。如下圖所示:母線(xiàn)掛地線(xiàn),C1上端不拆線(xiàn),C1下端接高壓線(xiàn)芯線(xiàn),C2末端接Cx芯線(xiàn)。儀器采用反接線(xiàn)/10kV/M測(cè)量方式,可同時(shí)測(cè)出C11和下端屏蔽部分的電容量和介損值。

1)EEGM570L5CW5)IL)N_}N6.png

3.3光標(biāo)在  上面時(shí)候,按確認(rèn)鍵則測(cè)試打印機(jī),換紙。

3.4光標(biāo)在 啟動(dòng) 上面時(shí)候,按減小鍵則代表取出存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。

3.5測(cè)試完畢,如果按減小鍵,則代表存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)


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