詳細摘要：德國Novocontrol公司作為*的寬頻介電阻抗譜儀的制造商，推出的寬頻介電阻抗電化學一體機NEISYS是一款高性能、靈活和經(jīng)濟的電學參數(shù)測量儀器，NOVOCONTROL Technologies的PATENT測量技術，保證準確性和可靠性，該儀器廣泛應用于高校、研究所及企業(yè)研發(fā)部門的研

詳細摘要：NeoColor 500臺式分光測色儀采用45/0°光學結構，專為交通路標色度測量、咖啡色度、柑橘色度、番茄色度、茶葉色度等固體顆粒物色度測量而設計，更加符合人眼目測評估的一致性。

詳細摘要：DigiDens T6CR彩色透射反射密度計結構緊湊，精度高，功耗小，且僅有3個按鈕，操作方便。包含了一個很大的液晶屏幕，顯示更多的信息，并且非?？煽浚饩S護。光源壽命長，耐用。 TR密度計采用電池供電的手持測量儀，幾乎可以裝進任何口袋。

詳細摘要：Gamma Scientific UDT S2575微型積分球由一個型號260的硅傳感器與一個型號2575、直徑為50毫米的積分球組成。該設備提供以瓦特(W)或毫瓦(mW)為單位的測量結果。

詳細摘要：意大利ETV定型機溫度、濕度在線實時監(jiān)測和控制系統(tǒng)SFERA PLUS，可實時監(jiān)測布面溫度，布面殘余含水率和烘箱內空氣濕度，根據(jù)偵測的參數(shù)自動調整定型機運行速度和廢氣排放閥門，從而提高產(chǎn)品質量穩(wěn)定性、生產(chǎn)效率、節(jié)約能源。

詳細摘要：ETV非接觸式溫度傳感器ThermoControl用于非接觸測量烘箱內織物溫度，最高耐受環(huán)境溫度可達250°C。傳感器直接安裝在烘箱內，靠近待測量溫度的織物。其工作原理基于通過偵測被測織物的熱輻射的發(fā)射，計算獲得溫度，即輻射測溫的原理。

詳細摘要：Radiant磁電性能測試組件套裝用于塊體或薄膜樣品的磁電響應（MER），采用綜合封裝設計，可幫助研究人員有效地表征磁耦合多鐵性或磁壓電器件，針對被測試樣品的類型，塊狀陶瓷和薄膜兩種版本。

詳細摘要：Everfine HAM-200霧度計主要用于塑料、薄膜、玻璃、LCD面包以及液體等的總透光率、霧度、散射透光率等的測量，符合ASTM D1003、GB/T2410、JIS K7105以及JC/T 2130等國內標準要求，配置超大觸控屏，以及友好的人機交互界面，使測量更加便捷高效。

詳細摘要：BBMS-2000雙向反射/透射空間分布測量系統(tǒng)可分析測量材料表面的反射、透射特性，可測參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，可廣泛應用于手機板材、光學膜材料等諸多材料的表面

詳細摘要：德國TECHKON固體粉末分光色差計SpectroBase Solid可以測量固體粉末物質的顏色，該反射式分光色差計能夠精確地測量所有固體樣品，包括膏、粉、顆粒的所有有色表面。典型的應用是糧食、堅果、谷物、香料、調味醬、水果、奶酪和烘焙食品的顏色測量。

詳細摘要：玻璃毛細管用于單晶、粉末樣品和液晶的X射線精細結構分析。基于通過玻璃的低吸收，極薄壁毛細管允許分析密封在氣體和防潮環(huán)境中的小樣品。根據(jù)Debye-Scherrer方法或通用SAXS（小角x射線散射）和WAXS（廣角x射線散射），可以使用我們的標記管（也稱為XRD毛細管

詳細摘要：YS4560高精度分光測色儀采用符合CIE 5的45/0（45度環(huán)形照明，0度接收）幾何光學結構，采用凹面光柵分光方式，可精確測量樣品反射率及各種色度數(shù)據(jù)。儀器配備Φ8、Φ4mm雙測量口徑,用于交通路標、塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷、陶瓷等行業(yè)精

詳細摘要：Novocontrol concept 40寬頻介電阻抗譜儀不僅是在實驗室開發(fā)和研究新材料的重要測量手段，并且在生產(chǎn)質量控制和優(yōu)化上也是強有力的工具。可以應用于化學、物理化學、電化學、電子、電工工程、材料科學、生物學和制藥等領域，尤其包括聚合物、樹脂、陶瓷、橡膠

詳細摘要：TIR 100-2紅外熱發(fā)射率測定儀應用范圍廣泛,可在數(shù)秒鐘內快速確測定物體表面熱發(fā)射率，實為測量發(fā)射率進行有效質量控制的理想設備。

詳細摘要：Honle UV-Meter紫外線照度計采用經(jīng)過優(yōu)化的傳感器，測量可追溯至德國標準 PTB 的精確數(shù)據(jù)?？筛采w波長從 230 nm 到 550nm-UVC、UVB、UVA 和 VIS，專用 LED 傳感器。

詳細摘要：NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統(tǒng)用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole，Pad形狀，pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優(yōu)秀的重復性和準確性，支持用戶設定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動保存及分析功能。

詳細摘要：Gamma Scientific GS-1290 NVIS分光輻射度計是一款高速光譜輻射計，它將背面薄型CCD探測器靈敏度前沿技術與Gamma Scientific業(yè)界的RadOMA光電平臺相結合。

詳細摘要：德國畢克BYK桔皮儀 3 Dual是一款幫助您解決問題并取得理想表面外觀的診斷工具，有了它，您可以為每一層涂料建立起外觀技術指標說明，以確保您總能達到想要的外觀效果。用于測量高光澤至中光澤涂層表面的桔皮和鮮映性

詳細摘要：NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.

詳細摘要：Nano System CS2000氣缸表面光學分析儀結合了無損分析性能, 操作便利。除了評估ISO粗糙度值, 采用白光干涉測量技術之外, 這款緊湊型系統(tǒng)還可以測量納米尺度粗糙度, 亞納米分辨率和生產(chǎn)水平能力的三維表面形貌。
它可以測量直徑從70到160毫米的缸孔。