詳細(xì)摘要： LY-809系列CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和FPGA、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于*水平，是電力行...

詳細(xì)摘要： XUJI-360RMS CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于*水平，是...

詳細(xì)摘要： YTC8750E CT參數(shù)測(cè)試儀，是一種專(zhuān)門(mén)為測(cè)試互感器：伏安特性、變比、極性、誤差曲線(xiàn)、角差比差、計(jì)算拐點(diǎn)和二次側(cè)回路檢查等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器，支持檢測(cè)...

詳細(xì)摘要： SH54B CT參數(shù)測(cè)試儀，是一種專(zhuān)門(mén)為測(cè)試互感器：伏安特性、變比、極性、誤差曲線(xiàn)、角差比差、計(jì)算拐點(diǎn)和二次側(cè)回路檢查等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器，支持檢測(cè)CT和...

詳細(xì)摘要： XJ-1205型CT參數(shù)測(cè)試儀勵(lì)磁特性試驗(yàn)、 變比試驗(yàn)、 相位和極性試驗(yàn)、 二次繞組電阻測(cè)量、 負(fù)荷測(cè)量、CT暫態(tài)性測(cè)試 與分析、CT自動(dòng)推斷、 拐點(diǎn)電壓/電流...

詳細(xì)摘要： MLVA CT參數(shù)測(cè)試儀只要設(shè)定Z高輸出電壓和Z大輸出電流，不需設(shè)置記錄步長(zhǎng)，MLVA伏安特性測(cè)試儀即可從零開(kāi)始自動(dòng)升壓或升流進(jìn)行各種試驗(yàn)。試驗(yàn)中自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)...

詳細(xì)摘要： ZSFA-P CT參數(shù)測(cè)試儀是由本公司在廣泛聽(tīng)取用戶(hù)意見(jiàn)、經(jīng)過(guò)大量的市場(chǎng)調(diào)研、深入進(jìn)行理論研究之后研發(fā)的新一代的電流、電壓互感器測(cè)試儀器。裝置采用高性能DSP和...

詳細(xì)摘要： HMFAT-500P CT參數(shù)測(cè)試儀可進(jìn)行CT：勵(lì)磁特性試驗(yàn)，匝數(shù)比檢測(cè)，比差與角差校驗(yàn)，極性校驗(yàn)，二次繞組電阻測(cè)量，二次負(fù)荷測(cè)量，5%和10%誤差曲線(xiàn)測(cè)量，C...

詳細(xì)摘要： MS-601G CT參數(shù)測(cè)試儀大量應(yīng)用的互感器綜合測(cè)試，采用新一代革新型CT、PT測(cè)試技術(shù)。變頻互感器綜合特性測(cè)試儀裝置采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝...

詳細(xì)摘要： BRFA-III CT參數(shù)測(cè)試儀功能全面，既滿(mǎn)足各類(lèi)CT（如：保護(hù)類(lèi)、計(jì)量類(lèi)、TP類(lèi)）的勵(lì)磁特性（即伏安特性）、變比、極性、二次繞組電阻、二次負(fù)荷、比差以及角差...

詳細(xì)摘要： WAFA-II CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和FPGA、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于*水平，是電力行...

詳細(xì)摘要： FSVA-404 CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于*水平，是電力行...

詳細(xì)摘要： XUJI-120/150/180/250/360RMS CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、...

詳細(xì)摘要： TPHGC-G CT參數(shù)測(cè)試儀是一款集互感器伏安特性、變比、極性、誤差曲線(xiàn)、角差比差、計(jì)算拐點(diǎn)和二次側(cè)回路檢查等功能于一體的綜合型互感器檢測(cè)儀器。

詳細(xì)摘要： LYFA-5000 CT參數(shù)測(cè)試儀是在傳統(tǒng)基于調(diào)壓器、升壓器、升流器的互感器伏安特性變比極性綜合測(cè)試儀基礎(chǔ)上，廣泛聽(tīng)取用戶(hù)意見(jiàn)、經(jīng)過(guò)大量的市場(chǎng)調(diào)研、深入進(jìn)行理論...

詳細(xì)摘要： XP1-HTCT-300 CT參數(shù)測(cè)試儀采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于*水平，...

詳細(xì)摘要： DRHG-201 CT參數(shù)測(cè)試儀支持檢測(cè)CT和PT（保護(hù)類(lèi)、計(jì)量類(lèi)、TP 類(lèi)）穩(wěn)態(tài)和瞬時(shí)等參數(shù)。采用良好的電源技術(shù)，勵(lì)磁電壓高達(dá)30KV。 無(wú)需外接其它輔助設(shè)備...

詳細(xì)摘要： XUJI-H CT參數(shù)測(cè)試儀用于對(duì)保護(hù)類(lèi)或計(jì)量類(lèi)互感器特性（CT/PT）進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試，適用于實(shí)驗(yàn)時(shí)也適用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。滿(mǎn)足GB1207、GB1208、GB1684...

詳細(xì)摘要： TPHGC-E CT參數(shù)測(cè)試儀可保存1000組測(cè)試數(shù)據(jù)，掉電后不丟失。支持U盤(pán)轉(zhuǎn)存資料，可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的PC進(jìn)行讀取。自帶微型快速打印機(jī)、可直接現(xiàn)場(chǎng)打印測(cè)試結(jié)果。...

詳細(xì)摘要： HGY-XUJI CT參數(shù)測(cè)試儀裝置采用高性能DSP和ARM、良好的制造工藝，保證了產(chǎn)品性能穩(wěn)定可靠、功能完備、自動(dòng)化程度高、測(cè)試效率高、在國(guó)內(nèi)處于良好水平，是...