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磁性渦流雙用涂渡測(cè)厚儀

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) leeb220/221/222
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 滄州市
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更新時(shí)間:2017-11-16 14:59:19瀏覽次數(shù):604

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磁性渦流雙用涂渡測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

詳細(xì)介紹

主要功能:

    磁性渦流雙用涂渡測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

●全中文菜單;

●兩種測(cè)量方式;

●兩種工作方式;

●可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值;

●數(shù)據(jù)刪除功能;

●可設(shè)置界限;

●對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;

●電源欠壓指示;

●手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式。

 

 

磁性渦流雙用涂渡測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):

測(cè)頭類型

leeb220

leeb221

leeb222

測(cè)頭類型

F1

N1

F1或N1

工作原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)或電渦流

測(cè)量范圍

0~1250μm

低限分辨率

0.1μm

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3%)H+1]

測(cè)試條件

zui小曲率半徑mm

凸1.5、凹9

zui小面積直徑mm

Φ7

基本臨界厚度mm

0.5

工作環(huán)境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

AAA型堿性電池1.5V兩節(jié)

外形尺寸

150×55.5×23mm(主機(jī))

重量

F1/165g,N1/205g

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、AAA型堿性電池

選配

-

-

多種探頭

       

 

 

 

的技術(shù)數(shù)據(jù)

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流

 

測(cè)量范圍(μm)

0~400

0~1250

0~10mm

0~400

0~12500

10~200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3)%H+0.7]

±(3%H+1)

±(3%H+10)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±(1~3%H+0.7)

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+10]

±[(1~3)%H+1]

±[(1~3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

¢3

¢7

¢40

¢4

¢5

¢7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無(wú)限制

             

 

測(cè)頭選用參考表
 

 

覆蓋層基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等)

非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm 
  F1型測(cè)頭
  0~1250μm

F1型測(cè)頭
  0~1250μm 
  F10型測(cè)頭
  0~10μm

F400型測(cè)頭0~400μm 
  F1型測(cè)頭
  0~1250μm

F1型測(cè)頭
  0~1250μm 
  F10型測(cè)頭
  0~10μm

被測(cè)面積直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0~400μm

F400型測(cè)頭0~400μm 
  F1型測(cè)頭
  0~1250μm

F400型測(cè)頭0~400μm

F400型測(cè)頭0~400μm 
  F1型測(cè)頭
  0~1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積直徑大于10mm

N1型測(cè)頭0~1250μm
  N400測(cè)頭0~400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

被測(cè)面積直徑大于10mm

N400測(cè)頭0~400μm

N400測(cè)頭0~40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積直徑大于7mm

--

--

CN02型測(cè)頭10~200μm

 

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