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近視防控鏡片光學分析儀(微透鏡離焦測量)
詳細摘要:SUPER MAPPER PLUS (SMC+)近視防控鏡片光學分析儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術(shù),利用波前透射方式獲得整個測量區(qū)域內(nèi)多達2500萬個點的屈光度,從而獲得鏡片的各種屈光細節(jié)。
SMC具有測量動態(tài)范圍廣,精度高等特點,幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chǎn)品,如單焦點,散光,多焦點和各種環(huán)狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。
產(chǎn)品型號:SupperMapper Plus(SMC+)所在地:以色列 參考價:面議
超級地形圖儀(微透鏡離焦測量)
詳細摘要:SUPER MAPPER (SMC)超級地形圖儀基于Rotlex專有的摩爾偏折技術(shù),利用波前透射方式獲得整個測量區(qū)域內(nèi)多達約兩百萬個點的屈光度,從而得到鏡片的各種屈光細節(jié)。
SMC具有測量動態(tài)范圍廣,精度高等特點,幾乎適用于所有類型的眼鏡鏡片或其他類似產(chǎn)品,如單焦點,散光,多焦點和各種環(huán)狀離焦型及多點離焦型近視防控鏡片。
產(chǎn)品型號:SupperMapper(SMC)所在地:以色列 參考價:面議
鏡片光學分析儀(旗艦版)
詳細摘要:Class-Plus鏡片光學分析儀(旗艦版)是一款革命性的眼鏡片檢驗設(shè)備,于鏡片工廠和實驗室檢查整個鏡片的光學分布情況,使用了專有的莫爾條紋干涉技術(shù),具有速度快,精度高,數(shù)據(jù)多的特點。
產(chǎn)品型號:CLASS-PLUS所在地:以色列 參考價:面議
鏡片光學分析儀(地形圖版)
詳細摘要:Mapper(FFA)鏡片光學分析儀是FFV的簡化版,是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設(shè)備,結(jié)合了摩爾條紋干涉和雙光柵LAU效應的測量光路更加簡潔耐用,是行業(yè)內(nèi)*的測量設(shè)備。
產(chǎn)品型號:MAPPER(FFA)所在地:以色列 參考價:面議
鏡片光學分析儀(自由曲面版)
詳細摘要:FFV鏡片光學分析儀是一款高精度的鏡片屈光度地形圖測量設(shè)備,除了擁有Mapper(FFA)的所有特點外,F(xiàn)FV還*自由曲面模擬和比較模塊,特別適用于自由曲面加工業(yè)。
產(chǎn)品型號:FFV所在地:以色列 參考價:面議

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