篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀

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上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
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*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測(cè)量?jī)x
*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測(cè)量?jī)x
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2024-09-03 13:49:24瀏覽次數(shù):1753

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【簡(jiǎn)單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,冶金,航天,汽車
*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測(cè)量?jī)x
X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
【詳細(xì)說明】

*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測(cè)量?jī)x

 

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于快速、無損分析黃金和銀合金,分析儀器,測(cè)量方向從下到上。用途廣泛。測(cè)量室全封閉,可以使用大準(zhǔn)直器分析,高計(jì)數(shù)率也可以被硅漂移探測(cè)器處理。激發(fā)和輻射檢測(cè)方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質(zhì)痕量分析的理想儀器.X射線熒光測(cè)量?jī)x用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測(cè)量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測(cè)量?jī)x器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時(shí)測(cè)定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

產(chǎn)品特點(diǎn)

   ?  菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計(jì);
   ?  配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析
   ?  配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析
   ?  由下至上的測(cè)量方向,可以*簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀

  應(yīng)用實(shí)例

所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有出色的精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時(shí)間和精力。現(xiàn)代硅漂移探測(cè)器實(shí)現(xiàn)了高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺(tái)式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測(cè)器組件位于儀器的下部,因此測(cè)量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。

珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析

珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析

測(cè)量黃金珠寶

測(cè)量黃金珠寶

 

合金分析: CuNiZn檢測(cè)

合金分析: CuNiZn檢測(cè)

典型應(yīng)用領(lǐng)域包括

        ?  珠寶、貴金屬和牙科合金
        ?  黃白色黃金
        ?  鉑和銀
        ?  銠
        ?  合金和涂層分析
        ?  多層涂層分析

FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀主要參數(shù):

預(yù)期用途....................... 能量色散X射線測(cè)量?jī)x(ED XRF)用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍....................... 硫S(16)至鈾U(92)–同時(shí)多達(dá)24種元素
重復(fù)性....................... 對(duì)于金≤0.5‰,測(cè)量時(shí)間60秒
設(shè)計(jì)....................... 臺(tái)式單元,帶有向上打開的罩
測(cè)量方向....................... 自下而上
X射線管....................... 帶鈹窗的微焦點(diǎn)鎢管
高電壓....................... 3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;*大陽極電流:1 mA
光圈(準(zhǔn)直儀)....................... Ø 1 mm (39 mils), 可選Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
測(cè)量點(diǎn)....................... Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放樣品(測(cè)量距離0毫米)

 

 



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