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| 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
節(jié)省空間型設計：兩個驅(qū)動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
銷售：鐘
MarSurf XCR 20 粗糙度和輪廓測量站、MarSurf XCR 20 粗糙度和輪廓測量站、
在測量站使用 MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓
這個綜合的測量站可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和
輪廓測量。
根據(jù)測量任務，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。
兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
- 節(jié)省空間型設計：兩個驅(qū)動裝置可使用相應的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
- 一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
- 使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和*的分辨率
- 只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
- 技術(shù)數(shù)據(jù)
- 應用
- 附件
- 選項
- 版本
- 貨運
接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 | 25 |
掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
分辨率 | Z 方向，相對探針針頭： Z 方向，相對測量系統(tǒng)： |
掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差： |
定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
導塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
測量原則 | 探針法 |
輸入 | R 測頭，MFW 250 |
測量范圍 mm | (in Z) 50 mm |
掃描長度（文本） | 自動；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， |
采樣長度數(shù)量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN 左右 |