泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元 返回列表頁

泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元高密度系統(tǒng)SourceMeter (SMU)儀器在1U高的機箱中提供四條20瓦SMU通道。由于制造商需要優(yōu)化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設(shè)備機架的需求。此SMU為測試激光二極管、LED、2和3端子半導(dǎo)體等生產(chǎn)的理想解決方案。

泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元

1.將密度提高 3 倍

當(dāng)生產(chǎn)測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區(qū)域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放

• 無需增加 1U 隔熱間距

• 相同機架空間內(nèi)的通道數(shù)提高 3 倍

• 通道數(shù)相同但占用空間減少 3 倍

2.兼具兩臺 2602B 的功能

在 1 U 外形中體驗相當(dāng)于業(yè)內(nèi)*的 Keithley 2602B 系統(tǒng) SourceMeter 的優(yōu)的測量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數(shù)字 I/O 和 TSP Link 連接器，實現(xiàn)無縫遷移。

• 0.015% 基本測量精度

• 6 1/2 位分辨率

• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度

• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數(shù)字 I/O 連接器

3.系統(tǒng)性能提供大的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術(shù)可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供業(yè)界優(yōu)的性能。TSP-Link® 技術(shù)支持?jǐn)U展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信

• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼

• 連接多達 32 個 TSP-Link 節(jié)點或 64 條獨立 SMU 通道

• 隨著測試要求變化輕松重新配置

產(chǎn)品型號：