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首頁>>上海西努光學(xué)科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>工業(yè)顯微鏡>>鏡片反射率測定儀

  • USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀 參考價:面議

    奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能...
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:國外 對比
    鏡片測定USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀近紅外顯微分光測定儀鏡片反射率測定儀反射率測定儀
    2024/12/20 12:07:014326
  • USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀 參考價:面議

    USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:消除背面反射光采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。
    型號: 廠商性質(zhì):代理商所在地:國外 對比
    奧林巴斯顯微鏡鏡片反射率測定儀鏡片反射率測定儀鏡片反射率測定儀反射率測定儀
    2024/12/20 12:05:113618

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