可用于 300mm晶片圓測(cè)量和分析的*級(jí)自動(dòng)化納米測(cè)量工具

Park NX20 300mm是大樣品原子力顯微鏡，支持300mm×300mm全程機(jī)動(dòng)化。新升級(jí)的Park NX20系統(tǒng)專為失效分析和質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，可有效地檢測(cè)整個(gè)300mm晶圓，且無需任何繁瑣的樣品位移。盡管擴(kuò)大了支持300mm樣品的機(jī)動(dòng)XY工作臺(tái)，但Park的創(chuàng)新性振動(dòng)隔離技術(shù)仍然能夠?qū)⑾到y(tǒng)噪聲保持在低于0.5 (?) RMS，通常是0.3 ? RMS的水平。
經(jīng)檢驗(yàn)的該產(chǎn)品性能和單擊-原子力顯微鏡自動(dòng)化取消了樣本調(diào)整的需求，并使Park NX20的掃描過程盡可能高效和便于使用。通過我們的“批處理模式(Program Mode)"界面，用戶可以在整個(gè)300mmx300mm區(qū)域輕松實(shí)現(xiàn)可靠與可重復(fù)的順序多站點(diǎn)測(cè)量。NX20 300 mm從而成為需要掃描大樣品的FA、QA和QC工程師的理想之選。

專為大樣品晶圓檢測(cè)而建
NX20 300 mm進(jìn)行了全新設(shè)計(jì)，可達(dá)到大樣品的*佳測(cè)量。整個(gè)300mm晶圓區(qū)域可進(jìn)行低噪聲測(cè)量分析。這開啟了一個(gè)全新的自動(dòng)化測(cè)量范圍，讓工程師可以更快捷、更簡便、更精確地開展工作。

NX20 支持300mm樣品臺(tái)，性能已被證實(shí)
因其易用性和自動(dòng)化以及不受影響的精度，NX20已是FA、QA和QC工程師的*。憑借其支持300mm電動(dòng)XY軸工作臺(tái)的擴(kuò)大平臺(tái)，NX20 300mm更上一層樓，允許用戶輕松地以*的精度檢測(cè)更大的樣品。

Park SmartScan™讓精確測(cè)量更為簡單
Park NX20配備了我們的SmartScan操作系統(tǒng)，使其成為市場上最易于使用的原子力 顯微鏡之一。通過直觀且極為強(qiáng)大的界面，即便是未經(jīng)培訓(xùn)的用戶無需協(xié)助也可快速掃描大樣品。這使高級(jí)工程師能夠集中精力解決更大的問題和開發(fā)更好的解決方案。

a在完整300mm晶圓上掃描多個(gè)位點(diǎn)
SmartScan™允許用戶從位點(diǎn)到位點(diǎn)和樣品到樣品的層面上，借助基于網(wǎng)格和晶圓的模式，進(jìn)行自動(dòng)順序測(cè)量與表面形態(tài)、高度和表面粗糙度的比較。這可以大大提高掃描大樣品時(shí)的用戶便利性和生產(chǎn)效率。
b強(qiáng)大的工作創(chuàng)建功能
格式創(chuàng)建流程簡單，允許工程師設(shè)置每個(gè)批次的位置、名稱、數(shù)量和類型所定義的預(yù)設(shè)。

針對(duì)廣泛應(yīng)用性進(jìn)行優(yōu)化
NX20 300mm為眾多應(yīng)用提供自動(dòng)格式的測(cè)量，為納米級(jí)的樣品提供高級(jí)測(cè)量和分析。具有粗糙度、高度和深度測(cè)量，缺陷檢查，電氣和磁故障分析，熱性能表征和納米力學(xué)性能成像等能力，該設(shè)備是檢測(cè)大樣品的FA、QA和QC工程師執(zhí)行各種任務(wù)的理想選擇。