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METTLER梅特勒分析天平XP2U

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品       牌

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更新時間：2024-11-13 09:20:35瀏覽次數(shù)：276次

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參數(shù)名稱極限值參數(shù)名稱典型值稱量值2

參數(shù)名稱    極限值參數(shù)名稱   典型值
稱量值  

  2.1 g

典型重復(fù)性（sd）   0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
可讀性  

  1μg

典型微分非線性（sd）   √8x(10-14) · g · R_nt
重復(fù)性(sd) - 加載處   0.00025 mg典型微分四角誤差（sd）   8 x (10–7) . R_nt
- 低加載（加載處）   0.0002 mg (0.2 g)典型靈敏度偏移（sd）2)     3x(10-6)· R_nt
線性誤差    0.001mg典型最小稱量值*（符合USP）   0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
四角誤差（加載處）1)     0.0025 mg (1 g)典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)     0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
靈敏度漂移 

  1.5 x 10-5

典型穩(wěn)定時間     < 10 s
靈敏度溫度漂移 2)  

  0.0001 %/°C

1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復(fù)性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
靈敏度穩(wěn)定性 3)  

  0.0001 %/a

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