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目錄:上海昊量光電設(shè)備有限公司>>專(zhuān)用實(shí)驗(yàn)設(shè)備>> 多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)

多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)

  • 多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)
  • 多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 昊量光電
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
屬性

產(chǎn)地類(lèi)別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:電子/電池,綜合

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更新時(shí)間:2025-09-22 20:00:08瀏覽次數(shù):120評(píng)價(jià)

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多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計(jì)平臺(tái)組成,配合集成了相關(guān)算法的上位機(jī)軟件,可以快速完成光器件不同波長(zhǎng)下的 IL(插入損耗)、PDL(偏振相關(guān)損耗)、ILavg(平均插入損耗)測(cè)試。

一.多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品概述


    波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計(jì)平臺(tái)組成,配合集成了相關(guān)算法的上位機(jī)軟件,可以快速完成光器件不同波長(zhǎng)下的 IL(插入損耗)、PDL(偏振相關(guān)損耗)、ILavg(平均插入損耗)測(cè)試。該系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于密集波分復(fù)用模塊(DWDM)、波長(zhǎng)選擇開(kāi)關(guān)(WSS)和集成光芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和測(cè)試。

 

二.多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品特點(diǎn)


  1. 體積小、集成度高,系統(tǒng)只需兩臺(tái)儀器便可完成所有測(cè)量

  2. 精度高,速度快?

    分辨率:0.1pm?

    IL 重復(fù)性:±0.02dB?

    PDL 重復(fù)性:±0.01dB?

    IL 測(cè)量時(shí)間:≤3s(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)?

    PDL 測(cè)量時(shí)間:≤12s(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)

  3. 擴(kuò)展性高,機(jī)框支持級(jí)聯(lián),通道數(shù) N≥144

  4. 支持使用動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)(DLL)開(kāi)發(fā)定制軟件

 

三.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)規(guī)范


掃描速度

nm/s

1-200

IL 測(cè)量范圍

dB

70

IL 測(cè)量時(shí)間

sec

3(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)

PDL 測(cè)量時(shí)間

sec

12(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)

ILavg 測(cè)量時(shí)間

sec

6(波長(zhǎng)范圍 100nm,掃描速度 50nm/s)

分辨率

pm

0.1

IL 準(zhǔn)確度(典型值)

dB

±0.02(IL 在 0-40 dB)

±0.05(IL 在 40-50 dB)

±0.5(IL 在 50-65 dB)

±1.0(IL 在 65-70 dB)

IL 重復(fù)性(典型值)

dB

±0.02

IL 分辨率

dB

0.001

PDL 精度(典型值)

dB

±(0.02 + 3% of PDL)

PDL 重復(fù)性(典型值)

dB

±0.01

PDL 動(dòng)態(tài)范圍(典型值)

dB

25

PDL 分辨率

dB

0.001

通信

-

網(wǎng)口

 環(huán)境適應(yīng)性:以上所有指標(biāo)均在(23±5)℃,60%RH 以下環(huán)境下,使用高精度測(cè)試完成。


.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)典型應(yīng)用


IL 測(cè)量接線示意圖 普通測(cè)試:光源輸出不經(jīng)過(guò)分束模塊。



高精度測(cè)試:光源輸出經(jīng)過(guò)分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道,分束模 塊輸出接口接待測(cè)件輸入。



PDL/ILavg 測(cè)量接線示意圖 普通測(cè)試:偏振發(fā)生器輸出不經(jīng)過(guò)分束模塊。



高精度測(cè)試:偏振發(fā)生器輸出經(jīng)過(guò)分束模塊。分束模塊參考接口接光功率計(jì)參考通道, 分束模塊輸出接口接待測(cè)件輸入。



五.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)操作界面


六.多端口光器件IL、 PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)訂貨信息

 

名稱(chēng)

說(shuō)明

可調(diào)諧光源

CL波段

O波段

高速光功率計(jì)平臺(tái)

槽位數(shù) 5 個(gè)

光功率計(jì)模塊

-70dB-+5dB

一個(gè)模擬輸出口(SMA)

偏振態(tài)發(fā)生器模塊

CL 波段

O 波段

分束模塊

光接口 FC/UPC

光接口 FC/APC


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