產(chǎn)品：布魯克D8達(dá)芬奇X射線衍射儀
 

　　型號：D8 Advance
 

　　產(chǎn)地：德國
 

　　布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
 

　　高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!
 

　　*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。
 

　　技術(shù)指標(biāo):
 

　　Theta/theta 立式測角儀
 

　　2Theta角度范圍:-110～168°
 

　　角度精度:0.0001度
 

　　Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
 

　　探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
 

　　儀器尺寸:1868x1300x1135mm
 

　　重量:770kg
 

　　主要應(yīng)用
 

　　1、物相定性分析
 

　　2、結(jié)晶度及非晶相含量分析
 

　　3、結(jié)構(gòu)精修及解析
 

　　4、物相定量分析
 

　　5、點(diǎn)陣參數(shù)精確測量
 

　　6、無標(biāo)樣定量分析
 

　　7、微觀應(yīng)變分析
 

　　8、晶粒尺寸分析
 

　　9、原位分析
 

　　10、殘余應(yīng)力
 

　　11、低角度介孔材料測量
 

　　12、織構(gòu)及ODF分析
 

　　13、薄膜掠入射
 

　　14、薄膜反射率測量
 

　　15、小角散射