芯片測(cè)試通常包括以下幾個(gè)步驟：設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試（Design Verification Testing）：在設(shè)計(jì)階段，通過一系列的仿真和驗(yàn)證測(cè)試來(lái)確保設(shè)計(jì)的正確性和可行性。這些測(cè)試可能包括電路板布局、邏輯分析、時(shí)序分析等。原型驗(yàn)證測(cè)試（Prototype Verification Testing）：在原型開發(fā)階段，對(duì)設(shè)計(jì)的硬件部分進(jìn)行實(shí)際測(cè)試，以驗(yàn)證其功能和性能。這可能包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試等。生產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試（Production Verification Testing）：在量產(chǎn)前，對(duì)生產(chǎn)的芯片進(jìn)行全面的測(cè)試，以確保其滿足規(guī)格要求和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。這可能包括生產(chǎn)線測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、可靠性測(cè)試等。故障分析與修復(fù)（Fault Analysis and Repair）：在生產(chǎn)過程中，如果發(fā)現(xiàn)芯片存在問題，需要進(jìn)行故障分析和修復(fù)。這可能包括使用專門的設(shè)備和工具對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)和修復(fù)。最終測(cè)試（Final Testing）：在芯片交付給客戶之前，進(jìn)行最后的全面測(cè)試，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能符合預(yù)期。這可能包括功能測(cè)試、性能測(cè)試、兼容性測(cè)試等。以處理器舉例，F(xiàn)inalTest可以分成兩個(gè)步驟：

1、?動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）

2、系統(tǒng)級(jí)別測(cè)試（SLT）

ATE的測(cè)試?般需要?秒，?SLT需要?個(gè)?時(shí)，ATE的存在??的減少了芯?測(cè)試時(shí)間。

ATE負(fù)責(zé)的項(xiàng)??常之多，?且有很強(qiáng)的邏輯關(guān)聯(lián)性。測(cè)試必須按順序進(jìn)?，針對(duì)前列的測(cè)試結(jié)果，后列的測(cè)試項(xiàng)?可能會(huì)被跳過。這些項(xiàng)?的內(nèi)容屬于公司機(jī)密，?如電源檢測(cè)，管腳DC檢測(cè)，測(cè)試邏輯（?般是JTAG）檢測(cè)，burn-in，物理連接PHY檢測(cè)，IP內(nèi)部檢測(cè)（包括Scan，BIST，F(xiàn)unction等），IP的IO檢測(cè)（?如DDR，SATA，PLL，PCIE，Display等），輔助功能檢測(cè)（?如熱?學(xué)特性，熔斷等）。這些測(cè)試項(xiàng)都會(huì)給出Pass/Fail，根據(jù)這些Pass/Fail來(lái)分析芯?的體質(zhì)，是測(cè)試?程師的?作。

SLT在邏輯上則簡(jiǎn)單?些，把芯?安裝到主板上，配置好內(nèi)存，外設(shè)，啟動(dòng)?個(gè)操作系統(tǒng)，然后?軟件烤機(jī)測(cè)試，記錄結(jié)果并?較。另外還要檢測(cè)BIOS相關(guān)項(xiàng)等。?所有的這些?作，都需要芯?設(shè)計(jì)?程師在流?之前都設(shè)計(jì)好。測(cè)試?作在芯?內(nèi)是由專屬電路負(fù)責(zé)的，這部分電路的搭建由DFT?程師來(lái)做，在流?后，DFT?程師還要?成配套輸??量，?般會(huì)?成?萬(wàn)個(gè)。

這些?量是否能夠正常的檢測(cè)芯?的功能，需要產(chǎn)品開發(fā)?程師來(lái)保證。此外還需要測(cè)試?程師，產(chǎn)品?程師，和助?來(lái)?同保證每天能夠完成?萬(wàn)?芯?的?產(chǎn)任務(wù)不會(huì)因?yàn)闇y(cè)試邏輯bug?延遲?？紤]到每?次測(cè)試版本迭代都是??萬(wàn)?的代碼，保證代碼不能出錯(cuò)。需要涉及上百?的測(cè)試?程師協(xié)同?作，這還不算流?線技?，因此測(cè)試是費(fèi)時(shí)費(fèi)?的?作。實(shí)際上，很多?公司芯?的測(cè)試成本已經(jīng)接近研發(fā)成本。因此比傳統(tǒng)自動(dòng)化芯片測(cè)試設(shè)備更具優(yōu)勢(shì)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)是如今大多企業(yè)進(jìn)行芯片自動(dòng)化測(cè)試的選擇。

ATECLOUD是智能化測(cè)試的一套控制系統(tǒng)。主要用于程控設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試，ATECLOUD可以解決傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試的所有痛點(diǎn)問題，傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試出現(xiàn)的研發(fā)周期長(zhǎng)/費(fèi)用高/靈活性差/部署麻煩/數(shù)據(jù)安全這些問題 ATECLOUD都可以解決。

ATECLOUD作為國(guó)產(chǎn)化的智能測(cè)試平臺(tái)具有以下優(yōu)勢(shì)：

快速：

快速組建測(cè)試工步，客戶最清楚自己的測(cè)試過程，自己編寫隨時(shí)優(yōu)化測(cè)試過程即刻開始利用數(shù)據(jù)。

靈活：

1、靈活支持各類接口協(xié)議；

2、靈活配置對(duì)數(shù)據(jù)的加工和判別算法，可以支持自定義計(jì)算公式；

3、靈活定義測(cè)試報(bào)告；

4、靈活監(jiān)控測(cè)試過程（電腦/平板/監(jiān)控大屏）測(cè)試數(shù)據(jù)智能分析：在線分析/定制數(shù)據(jù)看板——可改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量，改進(jìn)測(cè)試工藝給領(lǐng)導(dǎo)看方便管理。

安全： 

1、通訊安全（網(wǎng)絡(luò)環(huán)節(jié)采用https加密傳輸；

2、數(shù)據(jù)安全（多節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)庫(kù)）；

3、應(yīng)用部署。

ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)詳情介紹：