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多臺(tái)儀器測量軟件,ATECLOUD智能云測試平臺(tái)

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更新時(shí)間:2022-06-20 14:59:55瀏覽次數(shù):4501

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子
我們常??吹酱蠹以谶M(jìn)行儀器自動(dòng)化測試時(shí),遇到有2臺(tái)甚至多臺(tái)儀器需要同步進(jìn)行測量的問題。工程師需要用這些測試儀器測不同的東西,但數(shù)據(jù)記錄很麻煩,人工記錄費(fèi)時(shí)耗力,更容易造成數(shù)據(jù)誤差,出現(xiàn)問題根源也難以追溯。為了解決以上問題,納米軟件Namisoft自主研發(fā)了一款多臺(tái)儀器測量軟件,ATECLOUD智能云測試平臺(tái),模塊拖拽搭建測試方案,全流程自動(dòng)化測試,海量數(shù)據(jù)智能分析。

詳細(xì)介紹

多臺(tái)儀器測量軟件,ATECLOUD智能云測試平臺(tái)

  我們常常看到大家在進(jìn)行儀器自動(dòng)化測試時(shí),遇到有2臺(tái)甚至多臺(tái)儀器需要同步進(jìn)行測量的問題。比如公司購買了很多不同品牌如Tektronix、FLUKE、TDK、KEYSIGHT、R&S、國產(chǎn)RIGOL的測試儀器,有示波器、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀、數(shù)字萬用表、電源、LCR表、功率分析儀等,型號(hào)也各不相同。

  工程師需要用這些測試儀器測不同的東西,但數(shù)據(jù)記錄很麻煩,人工記錄費(fèi)時(shí)耗力,更容易造成數(shù)據(jù)誤差,出現(xiàn)問題根源也難以追溯。為了解決以上問題,納米軟件Namisoft自主研發(fā)了一款A(yù)TECLOUD智能云測試平臺(tái),0代碼編程,模塊拖拽搭建測試方案,全流程自動(dòng)化測試,海量數(shù)據(jù)智能分析。大家有測試需要可聯(lián)系我們免費(fèi)體驗(yàn)ATECLOUD智能云測試平臺(tái)哦~

  一、ATECLOUD智能云測試平臺(tái)的常見應(yīng)用:

  1、儀器程控

  各品牌示波器、萬用表、源表、電源、信號(hào)發(fā)生器、頻譜儀等單臺(tái)或多臺(tái)程控;

  2、電子元器件自動(dòng)測試系統(tǒng)

  二極管、三極管、場效應(yīng)管等性能/老化測試;

  3、多通道數(shù)據(jù)采集測試系統(tǒng)

  系統(tǒng)可程控多臺(tái)PICO示波器完成多通道數(shù)據(jù)的高速采集;

  4、電源模塊自動(dòng)測試系統(tǒng)

  系統(tǒng)可程控電源、電子負(fù)載、示波器、萬用表、功率計(jì)等測試電源的相關(guān)參數(shù);

  5、LCR自動(dòng)測試系統(tǒng)

  系統(tǒng)程控LCR表及繼電器等測試電阻、電容、電感等參數(shù);

  6、非標(biāo)定制

  根據(jù)用戶需求非標(biāo)定制測試項(xiàng)目


  二、ATECLOUD智能云測試平臺(tái)使用流程




連接設(shè)備——?jiǎng)?chuàng)建測試項(xiàng)目——編輯測試方案——啟動(dòng)測試——查看歷史數(shù)據(jù)并分析

ATECLOUD-登錄頁面

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ATECLOUD-編輯測試方案

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ATECLOUD-方案運(yùn)行測試

ATECLOUD-方案運(yùn)行測試.png

三、ATECLOUD智能云測試平臺(tái)案例實(shí)景


ATECLOUD智能云測試平臺(tái)案例實(shí)景.png

 以上是納米軟件Namisoft為大家分享的關(guān)于多臺(tái)儀器測量軟件,ATECLOUD智能云測試平臺(tái)的介紹,索取產(chǎn)品資料,申請免費(fèi)試用,請聯(lián)系我們手機(jī)號(hào)同微信

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