產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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產(chǎn)品分類品牌分類
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組合波發(fā)生器 高壓實(shí)驗(yàn)系統(tǒng) 高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器 三倍頻發(fā)生器 油介損全自動(dòng)測(cè)試儀 三相高壓試驗(yàn)電源系統(tǒng) 超低頻高壓發(fā)生器 變壓器綜合測(cè)試儀 高壓表 高壓發(fā)生器 CVT檢驗(yàn)用諧振升壓裝置 耐壓試驗(yàn)裝置 校驗(yàn)裝置 耐壓試驗(yàn)箱 巡檢儀 繞組匝間檢測(cè) 匝間沖擊耐壓試驗(yàn)儀 絕緣樣片介電強(qiáng)度裝置 沖擊電壓發(fā)生器 安規(guī)綜合測(cè)試儀 交流耐壓測(cè)試儀 絕緣耐壓試驗(yàn)電極裝置 分壓器 變電站變頻串聯(lián)諧振 數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀 感應(yīng)耐壓發(fā)生器 變壓器 無(wú)局部放電試驗(yàn)裝置 直流高壓發(fā)生器
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
局部放電的定義及產(chǎn)生原因
在電場(chǎng)作用下,絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電,但尚未擊穿,(即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿)。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上,也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部,發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電,稱之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義,指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電,局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種:
- 1.電場(chǎng)不均勻。
- 2.電介質(zhì)不均勻。
- 3.制造過程的氣泡或雜質(zhì)。zui經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡;其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同,也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫;再有一些是在運(yùn)行過程中有機(jī)高分子的老化,分解出各種揮6發(fā)物,在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下,電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中, 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。
GDJF2006數(shù)字式局部放電檢測(cè)系統(tǒng)的產(chǎn)品用途
GDJF2006數(shù)字式局部放電檢測(cè)系統(tǒng)由三大模塊構(gòu)成:信號(hào)處理模塊,隔離模塊,采集處理模塊。根據(jù)系統(tǒng)連接圖,檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)檢出并送到信號(hào)處理模塊,信號(hào)處理模塊完成將局部放電信號(hào)整理、放大、整形等功能后將局部放電信號(hào)送往隔離模塊,隔離模塊將計(jì)算機(jī)采集處理模塊和信號(hào)處理模塊隔開,防止它們之間互相干擾,zui后由采集處理模塊完成對(duì)局部放電信號(hào)的采集.處理.分析和顯示
GDJF2006的產(chǎn)品特點(diǎn)
- 采用高速.大容量數(shù)據(jù)采集卡,能進(jìn)行連續(xù)采集局放數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)復(fù)現(xiàn)性好,準(zhǔn)確度高。
- 具有測(cè)試.分析(多參數(shù)分析.二維圖譜分析.三維圖譜分析).數(shù)據(jù)保存。報(bào)告生成及打印等功能
- 能同時(shí)顯示局部放電波形(橢圓。正鉉波。直線三種方式)。局放量和測(cè)試電壓。
- 在校正和測(cè)試過程中自動(dòng)調(diào)節(jié)增益而不需要人為干預(yù),操做簡(jiǎn)便.
- 可適應(yīng)工頻(50Hz)三倍頻(150Hz)zui高至400Hz的電源。
- 可實(shí)現(xiàn)對(duì)外加電源頻率的自動(dòng)跟蹤.
- 開門開窗可任意設(shè)置zui小可至1度。
- 可單通道也可六個(gè)通道進(jìn)行測(cè)量.
- 體積小,重量輕。既適合于電力部門和制造廠車間等現(xiàn)場(chǎng)使用,也適合于科學(xué)研究試驗(yàn)。
- 靈敏度高,適用的試品范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
GDJF2006的產(chǎn)品參數(shù)
可測(cè)試品的電容量范圍 | 6pf~250μf |
檢測(cè)靈敏度 | <0.02pc(電容50pf時(shí)) |
放大器 | 3db低端頻率f1 10、20、30。50。80kHz任選,3db頻率fh 100 、200、300、400、500kHz任選 |
增益調(diào)節(jié)范圍>120db,檔間增益差20±1db。正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性<1db | |
時(shí)間窗 | 窗寬1о~360о,窗位置可任意旋轉(zhuǎn) |
試驗(yàn)電壓表 | 0~200kV,數(shù)字表顯示時(shí)誤差<3%F.S |
采集通道 | 4通道/卡 |
輸入阻抗 | 1MΩ |
采集卡zui高采樣率 | 20MHz |
AD分辨率12BIT。直流精確0.2% | |
每通道采樣長(zhǎng)度 | 8M |
觸發(fā)方式 | 手動(dòng)、外觸發(fā)、內(nèi)觸發(fā) |
采集卡帶寬 | 3MHz(-3DB) |
重量 | 約15kg |
與局放儀相關(guān)的三種典型的試品的試驗(yàn)線路:
(一)并聯(lián)法 (二)串聯(lián)法 (三)平衡法
- 標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)電路,又稱并聯(lián)法。適合于必須接地的試品。 其缺點(diǎn)是高壓引線對(duì)地雜散電容并聯(lián)在 CX上,會(huì)降低測(cè)試靈敏度。
- 接法的串聯(lián)法,其要求試品低壓端對(duì)地浮置。 其優(yōu)點(diǎn)是變壓器入口電容、高壓線對(duì)地雜散電容與耦合電容CK并聯(lián),有利于提高試驗(yàn)靈敏度。缺點(diǎn)是試樣損壞時(shí)會(huì)損壞輸入單元。
- 平衡法試驗(yàn)電路:要求兩個(gè)試品相接近,至少電容量為同一數(shù)量級(jí)其優(yōu)點(diǎn)是外干擾強(qiáng)烈的情況下,可取得較好抑制干擾的效果,并可消除變壓器雜散電容的影響,而且可做大電容試驗(yàn)。缺點(diǎn)是須要兩個(gè)相似的試品,且當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí),需設(shè)法判別是哪個(gè)試品放電。
值得提出的是:由于現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)條件的限制(找到兩個(gè)相似的試品且要保證一個(gè)試品無(wú)放電不太容易),所以在現(xiàn)場(chǎng)平衡法比較難實(shí)現(xiàn),另外,由于采用串聯(lián)法時(shí),如果試品擊穿,將會(huì)對(duì)設(shè)備造成比較大的損害,所以出于對(duì)設(shè)備保護(hù)的想法,在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)一般采用并聯(lián)法。
該系統(tǒng)采用脈沖電流法檢測(cè)高壓試品的局部放電量,由控制臺(tái)控制調(diào)壓器和變壓器在試品的高壓端產(chǎn)生測(cè)試局放所需的預(yù)加電壓和測(cè)試電壓,通過無(wú)局放藕合電容器和檢測(cè)阻抗將局部放電信號(hào)取出并送至局部放電檢測(cè)儀顯示并判斷和測(cè)量。系統(tǒng)中的高壓電阻為了防止在測(cè)試過程中試品擊穿而損壞其他設(shè)備,兩個(gè)電源濾波器是將電源的干擾和整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)分開,降低整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的背景干擾。
根據(jù)上述原理圖可以看出,局部放電測(cè)試的靈敏度和準(zhǔn)確度和整個(gè)系統(tǒng)密切相關(guān),要想順利和準(zhǔn)確的進(jìn)行局部放電測(cè)試,就必須將整個(gè)系統(tǒng)考濾周到,包括系統(tǒng)的參數(shù)選取和連接方式。另外,在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí),由于是驗(yàn)證性試驗(yàn),高壓限流電阻可以省掉。