Touch Probe 掃描探針 返回列表頁(yè)

Touch Probe 掃描探針

圓柱形零件光學(xué)測(cè)量機(jī)

的性能

光學(xué)和觸覺(jué)功能的結(jié)合，使轉(zhuǎn)動(dòng)部件實(shí)現(xiàn)了完整的測(cè)量控制。

一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，多種選擇。

一個(gè)全新的軸測(cè)量功能，結(jié)合具體的光學(xué)技術(shù)方法和觸摸探針測(cè)量系統(tǒng)。

觸摸式探頭

Vicivision測(cè)量系統(tǒng)現(xiàn)在配備了一個(gè)Renishaw掃描探針，安裝在光源頂部。探針可以互換，覆蓋整個(gè)長(zhǎng)度區(qū)域。

光學(xué)與觸覺(jué)結(jié)合

當(dāng)光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)快速提供靜態(tài)、幾何和螺紋測(cè)量、形狀和螺母測(cè)量時(shí)，觸摸系統(tǒng)檢測(cè)不可光學(xué)測(cè)量的特征。

光學(xué)和觸摸組合可測(cè)量：

軸向和總軸向跳動(dòng)長(zhǎng)度

平面度

垂直性

鍵槽寬度

鍵槽深度

鍵槽長(zhǎng)度

技術(shù)參數(shù):